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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0984362 (2015-12-30) |
등록번호 | US-9952161 (2018-04-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 105 |
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1. A method of obtaining digital data for determining, shaping or testing a semiconductor or anisotropic device or materials under test comprising: (a) providing a beam of light from a light source having a first wavelength;(b) in a first beam instance imposing said beam of light on a test device ov
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