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[미국특허] Contact probe 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01R-013/24
  • G01R-001/073
  • G01R-001/067
출원번호 US-0674541 (2017-08-11)
등록번호 US-9972933 (2018-05-15)
우선권정보 JP-2012-265364 (2012-12-04); JP-2013-001903 (2013-01-09)
발명자 / 주소
  • Kimura, Teppei
  • Fukushima, Noriyuki
  • Urata, Atsuo
  • Arita, Naoki
  • Takeda, Tomoyuki
출원인 / 주소
  • Japan Electronic Materials Corporation
대리인 / 주소
    Kilyk & Bowersox, P.L.L.C.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 8

초록

The present invention intends to suppress a contact probe from interfering with a guide plate to produce shavings. The present invention has stacked structure that sandwiches an intermediate metallic layer 12 between outer metallic layers 11 and 13, and includes: a contact part 2 that is brought int

대표청구항

1. A contact probe comprising: a contact part that is brought into abutting with a test object;a terminal part that is electrically connected to a wiring board;an elastic deformation part that is provided between said contact part and said terminal part, and has a curved shape to predetermine a dire

이 특허에 인용된 특허 (8) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Krger Gustav (Herrenberg DEX) Hinnerwisch Sven (Nufringen DEX), Contactor for an electronic tester.
  2. Hirakawa, Hideki; Soma, Akira; Hayashizaki, Takayuki; Kuniyoshi, Shinji; Tazawa, Masahisa, Electrical test probe.
  3. Slocum Alexander H. ; Ziegenhagen ; II Rodney Scott, Flexible shielded laminated beam for electrical contacts and the like and method of contact operation.
  4. Das Gobina ; Gaschke Paul Mathew ; Hegde Suryanarayan G. ; LaForce Mark Raymond ; McHerron Dale Curtis ; Perry Charles Hampton ; Taber ; Jr. Frederick L., Large area multiple-chip probe assembly and method of making the same.
  5. Eldridge Benjamin N. ; Grube Gary W. ; Khandros Igor Y. ; Mathieu Gaetan L., Method of planarizing tips of probe elements of a probe card assembly.
  6. Grube, Gary W.; Mathieu, Gaetan L.; Madsen, Alec, Microelectronic contact structure.
  7. Yamamoto Syozo,JPX, Temperature sensor and method and apparatus for using the temperature sensor and fixing apparatus in combination with a.
  8. Lou, Choon Leong, Vertical probe comprising slots and probe card for integrated circuit devices using the same.

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