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특허 상세정보

Evaluation apparatus and evaluation method of sheet type cell

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-031/36    H01M-010/48    H01M-010/04    G01R-001/073   
출원번호 US-0342870 (2011-09-05)
등록번호 US-10036780 (2018-07-31)
국제출원번호 PCT/JP2011/070182 (2011-09-05)
§371/§102 date 20140521 (20140521)
국제공개번호 WO2013/035149 (2013-03-14)
발명자 / 주소
  • Dewa, Harutada
  • Hiwada, Kiyoyasu
출원인 / 주소
  • KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
대리인 / 주소
    Bacon & Thomas, PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 34
초록

An electrode probe is brought into contact with a measurement part on an outer surface of at least one of the positive electrode and the negative electrode of a sheet type cell, and quantity of electricity is measured at the measurement part, so as to evaluate the sheet type cell. The electrode probe may be connected to a voltage meter and to a charge source or a discharge source, and the evaluation made by detecting a charge characteristic that changes the cell from a non-charged state to a fully charged state, a discharge characteristic that changes th...

대표
청구항

1. An evaluation method of a sheet type secondary cell for evaluating a charging and/or discharging characteristic of the sheet type secondary cell capable of charging and/or discharging and in which a storage layer that stores electrons during charging operation and that releases the electrons during a discharging operation is sandwiched by layers of a positive electrode and a negative electrode, the evaluation method comprising the step of bringing an electrode probe into electrical contact with a first of a plurality of measurement parts on an outer s...

인용문헌 (34)

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