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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0003145 (2016-01-21) |
등록번호 | US-10088452 (2018-10-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 136 |
A method includes passing a magnetometer along a length of a material. The method also includes measuring, via the magnetometer, a first magnetic field magnitude along a first portion of the length of the material and measuring, via the magnetometer, a second magnetic field magnitude along a second
1. A method comprising: passing a magnetometer along a length of a material;measuring, via the magnetometer, a first magnetic field magnitude along a first portion of the length of the material;measuring, via the magnetometer, a second magnetic field magnitude along a second portion of the length of
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