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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | 16934525 (2020-07-21) |
등록번호 | 11153009 (2021-10-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 0 |
An optical device such as an optical transceiver can include a cascaded built-in self-test structure that can be configured in testing mode using an active power mode and can sufficiently attenuate light away from a loopback path in an inactive power mode. The optical device can include a wafer top
1. A method for testing an optical transceiver comprising a transmitter and a receiver, the method comprising: transmitting light from the transmitter to the receiver along a loopback path in the optical transceiver in a loopback mode, the loopback mode being enabled by an integrated loopback switch
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