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NTIS 바로가기국가/구분 | WIPO(WO) A1 공개 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | JP-0057400 (2015-03-13) |
공개번호 | WO-0146614 (2015-10-01) |
우선권정보 | JP-2014059490 (2014-03-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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Provided is an SIMS analysis method with which contamination of a solid sample to be measured can be prevented, the solid sample can be stably fixed, and good contrast can be exhibited. Further provided is an SIMS analysis device for analysing a solid sample in such an SIMS analysis method. In this
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