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NTIS 바로가기등록일자 | 2004-12-30 |
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출처 | RESEAT |
URL | https://www.reseat.or.kr/portal/cmmn/file/fileDown.do?menuNo=200019&atchFileId=61ab0eee6efc435aba3130cd4e1bf46e&fileSn=1&bbsId= |
□ 본 논문은 분체공학에서의 미립자의 측정기술의 현황을 서술하고 있다. 그동안의 미립자의 분석접근은 수용액에 혼탁한 콜로이드*계면화학을 통한 간접측정법이었으나, 직접측정기술을 소개하고, 입자사이에 작용하는 인력과 척력의 2가지를 고려한 측면에서의 측정을 관찰하였다.
□ 응력의 직접측정법으로 표면간의 응력측정 장치(Surface Force Apparatus, SFA)와 원자간 응력현미경(Atomic Force Microscope, AFM)의 원리와 측정방법이 설명되어 있는데 현황파악으로 그 밖의 측정법도 설명되는
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