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NTIS 바로가기등록일자 | 2009-09-02 |
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출처 | RESEAT |
URL | https://www.reseat.or.kr/portal/cmmn/file/fileDown.do?menuNo=200019&atchFileId=b29aea3ba4c047fc8571946dfb7baecc&fileSn=1&bbsId= |
○ 금속재료의 결정조직, 격자구조, 상분석, 석출상, 결함, 구성성분 등을 분석하는 데는 광학현미경, X선회절분석기, 분광분석기(EDS), 전자현미경(TEM, SEM) 등이 이용되며 이들 장비는 연구개발을 위한 실험실에서는 물론이고 생산현장의 품질관리와 공정관리에도 필요불가결한 기초 장비가 되고 있다.
○ 광학현미경은 0.2㎛의 분해능과 ~103 정도의 배율을 가지므로 결정립, 조직의 형상(morphology), 미소결함, 제2상입자 등의 관찰에 주로 이용되며 전자현미경은 0.2㎚의 분해능과 103~106
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