초록 ▼

1. 자료명:Nanomechanics from atomic resolution to molecular recognition based on atomic force microscopy technology
2. 저자:H P Lang, MHegner, EMeyer and Ch Gerber
3. 출판사: Nanotechnology 13 (2002)
4. 출판날짜: 2002년 10월
5. 내용소개
최근 나노관련 연구 개발에 필수적으로 많이 사용되고 있는 AFM 장비의 나노 감지 기능을 이용한 여러 적

1. 자료명:Nanomechanics from atomic resolution to molecular recognition based on atomic force microscopy technology
2. 저자:H P Lang, MHegner, EMeyer and Ch Gerber
3. 출판사: Nanotechnology 13 (2002)
4. 출판날짜: 2002년 10월
5. 내용소개
최근 나노관련 연구 개발에 필수적으로 많이 사용되고 있는 AFM 장비의 나노 감지 기능을 이용한 여러 적용 예가 요약되어 있는 최신 발표 논문이다.
AFM은 탐색하고자 하는 표면의 원자나 분자와 AFM의 Cantilever와 존재하는팁 간의 상호작용(예, 반데르발스 힘)의 크기에 따라 cantilever가 휘는 정도를 이용하여, 표면의 특정 화합물이나 원자의 존재를 감지하는데 사용하는 nanosensors 로 사용이 가능하다.
이 논문에서는 화합물의 증기나 냄새를 감지할 수 있는 고분자를 cantilever 표면에 부분적으로 코팅하여 electronic nose로서의 기능을 시험하여 process field, quality control, biosensing, medical diagnostics, molecular recognition, proteomecs 분야에서 널리 사용할 수 있음을 제시 하였다.
이외에도 나노테크놀로지 출현 배경에 관하여도 간략히 기술하였다.

6. 목차
1) Introduction
2) From atomic resolution to molecular recognition
3) Extracting information from cantilever responses
4) Example of differential deflection measurements:
DNA hybridization
5) Cantilever array sensors to recognize and
characterize vapours
6) Medical application
7) Conclusions

7. 분석자 서문
이 분석물의 원문은 Institute of Physics (IoP) 출판사에서 발간하는 “Nanotechnology” 저널에 2002년 발표된 “Tutorial” 부문의 논문[1]으로 이 분야에 익숙하지 않은 연구자들에게 자힘현미경의 원리와 응용을 소개하고 있다. 주 저자인 H.P. Lang 박사는 스위스National Competence Center in Research in Nanoscale Science 소속으로 이 연구소는 나노분야의 혁신적인 연구를 위해서 스위스 정부가 장기적으로 연구지원을 하고 있는 곳이다. 나노기술은 바이오기술, 정보기술과 함께 차세대 과학기술을 이끌 중요한 기술로서 이미 여러 기술 선진국들을 비롯한 많은 나라에서 정책적으로 연구지원을 하고 있다. 나노기술에 있어서 나노현상을 이해하고 제어할 수 있는 이론과 장비가 중요하다는 것은 말할 나위가 없을 것이다. 그러나 복잡한 나노현상을 이론적으로 완벽히 규명하기란 어려운 일이다. 따라서 나노현상을 원하는 정밀도로 관측할 수 있는 장비의 개발은 아주 중요한 연구과제이다. 이렇게 얻어진 실험적 데이터는 이론적 모델의 가정에 대한 진위 여부, 그리고 더 나아가 새로운 모델의 기초자료로 쓰일 수 있을 것이다.

※ 이 자료의 분석은 아이오와 주립대, Ames 연구소의 이성재님께서 수고해 주셨습니다. 궁금하신 점은 이성재님께 문의하시기 바랍니다.
e-mail : sjlee430@yahoo.com