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NTIS 바로가기등록일자 | 2008-07-23 |
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출처 | KOSEN-코센리포트 |
URL | https://kosen.kr/info/kosen/720464 |
문서암호 : www.kosen21.org
1. 분석자 서문
최근 나노재료의 발전과 함께 나노구조를 관찰할 수 있는 분석기술들도 급격히 발전하고 있다. 그 중에서도 투과 전자현미경(TEM)을 이용한 분석기술은 나노구조를 직접적으로 관찰할 수 있는 매우 강력한 분석도구이다. 그렇지만, 투과 전자현미경을 이용하기 위해서는 전자빔이 시편을 투과할 수 있도록 매우 얇게 만들어야 하는 어려움이 있고, 시편을 만드는 과정 중에 시편에 열적인 영향이 부과되거나 기계적인 변형을 부가될 가능성이 있어 원래의 시편의 조건을 완전하게
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