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SEM/EDS 에 의한 표면분석 기초연구
The Study on the Surface Analysis of Materials using SEM/EDS 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국지질자원연구원
Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources
연구책임자 이경애
참여연구자 성학제 , 김건한 , 정강섭 , 황윤옥
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월1992-12
주관부처 과학기술부
사업 관리 기관 한국지질자원연구원
Korea Institute of Geoscience and Mineral Resources
등록번호 TRKO200200007673
DB 구축일자 2013-04-18
키워드 주사전자현미경.표면분석.SEM/EDX.Surface analysis.

초록

EDS system을 장착한 주사전자현미경은 생체시료를 비롯한 각종 무기소재류의 Morpology 관찰과 국소부위의 조성분석에 유용하게 사용될 수 있다. 본 연구에서는 주사전자현미경을 이용한 각종시료에 대한 분석시 고려해야 할 사항들(Acc. voltage, Working distance, Current, App.size, etc.)과 image 사이의 상관성을 조사하여 최적의 조건을 도출해 낼 수 있도록 하였다.
또한, EDS분석은 background 및 matice effect를 고려한 Correction method를

목차 Contents

  • I. 서론...11
  • 1.1. Electron gun의 thermionic emission...12
  • 1.2. Tungsten cathode...20
  • 1.3. Electron lenses...21
  • 1.4. Electron-Beam interation...22
  • 1.5. Interaction volume...23
  • 1.6. Backscattered electrons...26
  • 1.7. Secondary electrons...29
  • 1.8. Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS)...30
  • II. 실험...33
  • 2.1. SEM과 Microanalysis를 위한 코팅 (Coating)...35
  • 2.2. SEM 측정...39
  • 2.3. EDX 측정...44
  • III. 결과 및 고찰...48
  • 3.1. SEM과 X-ray Microanalysis를 위한 시료 준비...48
  • 3.2. SEM 측정...54
  • 3.3. EDS 분석...61
  • References...79

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참고문헌 (25)

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