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미소전자 부품에서의 패키지 설계기술 및 신뢰성 확보에 관한 연구
Study on Package Design and Reliability in Microelectronics 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국과학기술원
Korea Advanced Institute of Science and Technology
연구책임자 염윤용
참여연구자 임세영 , 이순복 , 이병채 , 송태호 , 최상민
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월1994-08
주관부처 과학기술부
사업 관리 기관 한국과학기술원
Korea Advanced Institute of Science and Technology
등록번호 TRKO200200008888
DB 구축일자 2013-04-18

초록

고집적화, 고속화, 다기능화를 추구하면서 발전을 거듭해 온 반도체는 그 수행속도가 칩(chip)의 패키징 방법에 의해 제한 받을 정도가 되어 칩의 패키징 기술이 전자소자의 성능을 좌우하는 중요한 기술이 되었다. 고집적, 고속, 다기능화를 추구하는 전자소자를 고성능의 시스템으로 연결시키기 위한 패키징 방법으로 여러 개의 칩을 동시에 패키징하는 다중칩모듈(Multi Chip Module, MCM)방법이 제안되어 여러 분야에 활용되고 있다. 다중칩모듈은 시스템 경량화, 고속화, 신뢰성, 소비전력, 칩당 패키징 비용등에서 좋은 점을 가

목차 Contents

  • 제1장 서론...13
  • 제2장 연구 내용...17
  • 제1절 신뢰도 확보를 위한 다중칩모듈의 설계기법 정립...17
  • 1.개요...17
  • 가.1차년도 연구 내용 요약...17
  • 나.2차년도 연구 내용...17
  • 2.부분 차원 최적화 기법의 적용...19
  • 가.다중칩 모듈 최적화 문제에의 적용...19
  • 나.부분 차원 최적화 기법의 적용예...21
  • 3.목적 함수와 제한 함수의 근사...25
  • 가.일반적인 함수의 근사 방법...25
  • 나.근사 방법의 개선 적용...27
  • 다.근사 방법의 성능 분석...28
  • 4.결론...35
  • 참고문헌...36
  • 제2절 패키지에서의 열응력해석...37
  • 1.서론...37
  • 2.3차원 유한요소 모델링...38
  • 3.결과 및 논의...41
  • 4.결론...49
  • 참고문헌...50
  • 제3절 서로 다른 재료의 접합부분의 파괴역학적 해석...51
  • 1.개요...51
  • 2.리드프레임과 에폭시수지의 계면균열...52
  • 3.계면파괴인성치 측정...55
  • 4.실험...58
  • 5.이론적 해석...62
  • 가.계면파괴인성치...62
  • 나.상호매개적분...65
  • 6.실험결과와 토의...67
  • 7.결론...73
  • 참고문헌...73
  • 제4절 크립(Creep)-피로(Fatigue)하중 작용하의 납땜접합부의 수명예측기술...77
  • 1.서론...77
  • 2.본론...79
  • 가.납땜접합부에 걸리는 응력과 변형율...79
  • 나.납땜접합부의 피로파손 메카니즘...83
  • 다.납땜접합부의 피로수명 예측방법...88
  • 라.실험연구...94
  • 마.납땜접합부의 수명예측 시뮬레이션...96
  • 바.결과 및 고찰...97
  • 3.결론...113
  • 참고문헌...114
  • 제5절 IC가 장착된 회로기판 주위의 강제대류 냉각방식의 연구...118
  • 1.서론...118
  • 2.연구내용...121
  • 가.수직 그루브 핀의 자연대류...122
  • 나.수평 그리브 핀의 자연대류...134
  • 3.결론...145
  • 참고문헌...146
  • 제6절 집중열원이 있는 전자부품의 열방산 해석...147
  • 1.개요...147
  • 2.접촉열저항 모형...150
  • 3.결과 및 고찰...152
  • 가.실접촉면적의 변화에 따른 열저항의 변화...152
  • 나.접촉면의 분포에 따른 접촉열저항의 변화...157
  • 4.결론 및 향후과제...159
  • 참고문헌...160
  • 제3장 결론...162
  • 후기...164

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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