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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국과학기술원 Korea Advanced Institute of Science and Technology |
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연구책임자 | 배도선 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1997-04 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국과학기술원 Korea Advanced Institute of Science and Technology |
등록번호 | TRKO200200018058 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 통계적공정관리.비대칭분포.기변표본간격.?관리도.공정능력지수.Statistical Process Control.Skewed Distribution.Variable Sampling Interval ? Charts.Process Capability Index. |
최근의 통계적 품질관리는 공정을 검사하여 불량품이 생산되지않도록 미리 예방활동을 하는 통계적 공정관리(Statistical Process Control; SPC).의 체계적인 활용을 강조하고 있다. SPC기법의 대표적인 것으로는 관리도와 공정능력분석이 있다.관리도의 경우 공정평균의 변화를 관리하고자 할때 슈하르트형 X관리도가 흔히 이용되는데, 여기에는 일정한 시간간격으로 표본을 채취하는 고정표본간격 X관리도와 표본채취간격을 표본의 타점결과에 따라 변화시키는 가변표본간격 X관리도가 있다. 공정능력분석의 경우, 규격과 관련
Recent statistical quality activities tend to emphasize statisticalprocess control(SPC) which aims to protect the process against nonconforming unitsthrough process monitoring. Two major methodologies for SPC are control charts andprocess capability analyses. In the case of control charts, t
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