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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국과학기술연구원 Korea Institute Of Science and Technology |
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연구책임자 | 서상희 |
참여연구자 | 한택상 , 김동영 , 김영환 , 박종혁 , 이윤희 , 김재경 , 김진상 , 김형준 , 김효주 , 이성준 , 정구락 , 이태경 , 이덕중 , 김창훈 , 이종민 , 전용우 , 안세영 , 김용식 , 이성균 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2001-01 |
주관부처 | 국무조정실 |
사업 관리 기관 | 한국과학기술연구원 Korea Institute Of Science and Technology |
등록번호 | TRKO200200048468 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
광양자형 SWIR 감지 집적 IR 센서를 개발하기 위하여 SWIR용 HgCdTe 반도체의 MOVPE 성장 및 도핑 공정을 연구하였다. n on p 광 다이오드 소자의 특성을 개선하기 위하여 CdZnTe passivation 층을 e-beam 증착하였으며 C-V 특성을 측정하였고 이를 통하여 공정을 개선하였다. 제조된 HgCdTe 웨이퍼를 이용하여 1차원 배열(16×2) HgCdTe 센서 소자를 제조하였으며 I-V 특성과 spectral responsivit 특성을 측정하였다. Thermopile센서를 포함한 열형 센서의 열고립 구
In order to develope integrated IR sensors of quantum detector type for SWIR, we studied growth and doping processes for SWIR HgCdTe. To improve diode characteristics of n on p HgCdTe, CdZnTe passivation layers were deposited on HgCdTe by e-beam process. C-V measurement was used to asses and improve
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