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NTIS 바로가기주관연구기관 | 서울대학교 Seoul National University |
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연구책임자 | 윤민영 |
참여연구자 | 윤종철 , 박규준 |
보고서유형 | 2단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2008-04 |
주관부처 | 교육과학기술부 |
과제관리전문기관 | 한국과학기술정보연구원 Korea Institute of Science and Technology Information |
등록번호 | TRKO200800006216 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 양성자 비임.특성 X선.외부 인출 비임.원소분석.대기 분진.진위판별.Proton beam.characteristic X-ray.external beam.elemental analysis.aerosol.appraisal. |
PIXE는 수 MeV 정도로 가속된 양성자 비임을 시료에 조사하여 이 시료의 원자에서 나오는 특성 X선을 분석하여 표적 물질의 구성 원자를 정성, 정량 분석하는 물성 연구 방법이다. 본 과제 당해연도 연구개발 추진의 목적은 외부 인출 비임 PIXE 실험 장치를 연구, 개발하여 설치하고 이 장치를 바탕으로 외부 인출 비임 PIXE cross section을 여러 가지 전이금속 및 희토류 원소에 대해 측정하여 SRM을 구할 수 없는 시료에도 PIXE 미량 원소 분석이 가능하도록 기초 자료 획득을 꾀하는 것을 목적으로 하였다. 개발된 P
We intend to develope methods to measure the beam current for an air-borne proton beam, and to minimize the energy and current loss of the beam. We intend to acquire a set of PIXE data for rare-earth metals and transient metals, to form a basic database for the analysis for various samples for which
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