최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국과학기술연구원 Korea Institute Of Science and Technology |
---|---|
연구책임자 | 홍경태 |
참여연구자 | 윤진국 , 옥명렬 |
보고서유형 | 2단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2008-06 |
과제시작연도 | 2007 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국과학재단 Korea Science and Engineering Foundtion |
등록번호 | TRKO201000012146 |
과제고유번호 | 1355049016 |
사업명 | 21세기프론티어연구개발사업 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 전기전도도측정.중성자/X-선 소각산란.나노구조분석.벌크비정질합금.electrical resistivity.SAXS/SANS.nanostructure.bulk metallic glass.3DAP. |
1. 전기전도도 측정에 의한 나노구조의 연속적인 변화거동 분석기술, 한국과학기술연구원, 홍경태
-과냉각액상영역에서의 등온 전기비저항 측정을 연속적으로 수행하여 결정화 거동을 분석하였고, 그 각 중간 단계의 샘플의 나노구조를 XRD, TEM 등을 이용하여 종합적으로 해석함.
-X-선/중성자 소각산란 및 EXAFS 분석등을 연계하여 결정상의 성장 메커니즘을 연구하고, 이를 바탕으로 결정화 kinetics 정량화.
-X-선/중성자를 이용한 나노박막 및 계면구조 분석 장치 구축 및 분석
2. 나노구조의 원자배열 분석
Internal phase transition process can cause the change of some physical properties of materials, and by monitoring those physical properties, structural change can be measured sensitively. One of those properties, electrical resistivity measurement was used to continuously monitor nanostructural tra
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.