초록 ▼

가. 기술 개발의 내용
최종 개발될 기술명은 Ambit (Advanced Memory Built-In Test IP)
이며 시스템 반도체에 내장되는 Static RAM 또는 ROM 메모리 블록에 대한
BIST (Built-in self test) IP core 및 BIST Output Compressor /Integrator
등 크게 두 가지 부분으로 구성된다.
각 서브시스템은 다음과 같은 세부 목표를 갖는다.
(1) 메모리 BIST IP core
(가) 테스트용 알고리듬에 따른 패턴 생성기에

가. 기술 개발의 내용
최종 개발될 기술명은 Ambit (Advanced Memory Built-In Test IP)
이며 시스템 반도체에 내장되는 Static RAM 또는 ROM 메모리 블록에 대한
BIST (Built-in self test) IP core 및 BIST Output Compressor /Integrator
등 크게 두 가지 부분으로 구성된다.
각 서브시스템은 다음과 같은 세부 목표를 갖는다.
(1) 메모리 BIST IP core
(가) 테스트용 알고리듬에 따른 패턴 생성기에 대한 설계
- 고장 모델에 따른 다양한 알고리듬용 RTL 코드 생성
- 사용자가 정의한 특수 알고리듬에 대한 자동 RTL 코드 생성
- at-speed memory BIST를 위한 자동 pipeline 설계 기능
- memory IP의 test collar (wrapper) 설계
(나) 출력비교기
- Comparator 및 Signature 분석기 RTL 코드 자동 생성 기능
(다) 하드웨어 RTL 코드 생성 소프트웨어
- 디지털 로직부분에 대한 스캔과의 통합 구현을 위한 isolation ring 설계
(2) Memory BIST Output Compressor/Integrator
(가) 다중 메모리 블록을 동시 지원하는 BIST output compressr 기능
- 각 메모리의 계층적 위치를 고려한 BIST core 자동 생성 및 검증
- 상용 CAD 도구와의 원활한 연동 기능 구현
(나) 공유된 메모리 블록의 테스트 Pipelining 기능
- 공유된 메모리 블록에 대하여 동시에 BIST 수행시 과도한 전력 소모에 의
한 회로 손상을 막기 위한 power-aware test scheduling 기능
- test scheduling용 RTL 자동 생성

목차 Contents

• 제출문 ...1
• 요약문 ...2
• 목차 ...10
• 제1장 서 론 ...13
• 제1절 연구 개발의 개요 ...13
• 1. 연구 개발의 배경 ...13
• 2. 연구개발의 목적 및 개발 내용 ...15
• 제2절 기술 개발 동향 및 시장성 분석 ...21
• 1. 개발 제품의 비교 ...21
• 2. 국내외 시장분석 ...21
• 제2장 메모리 BIST 구조 및 알고리듬 ...26
• 제1절 서론 ...26
• 제2절 고장 모델 ...29
• 1. 단일 포트 관련 고장 ...29
• 2. 이중 포트 관련 고장 ...32
• 제3절 메모리 테스팅 진단 패턴 ...34
• 1. 단일 포트 관련 고장 진단 ...34
• 2. 이중 포트 관련 고장 진단 ...38
• 제4절 이중 포트 메모리의 고장 진단 알고리듬 ...45
• 제5절 BIST에서의 고장 진단 ...62
• 1. 고장 검출 셀만을 진단하기 위한 BIST 구조 ...62
• 2. BIST 구현을 위한 변형된 고장 진단 알고리듬 ...64
• 3. 내장된 자체 테스트 회로의 구조 ...66
• 제3장 메모리 BIST 출력 컴프레서 및 Pipeline 설계 ...70
• 제1절 메모리 BIST 출력 컴프레서 ...70
• 1. Test data compression의 개요 ...70
• 2. 스캔 컴프레션 구조 ...74
• 3. 테스트 볼륨 및 테스트 시간 감축 계산 ...80
• 4. 고장 진단을 위한 one-to-one mode multiplexor 설계 ...82
• 제2절 Pipeline 설계 ...84
• 1. Pipeline 설계의 필요성 ...84
• 2. At-speed 테스트를 위한 Pipeline 설계 ...85
• 3. 메모리 출력 Compressor용 Pipeline 설계 ...87
• 제4장 메모리 BIST 설계 도구의 구현 ...90
• 제1절 메모리 BIST Core IP 도구 설계 ...90
• 1. 개 요 ...90
• 2. Memory BIST 라이브러리 양식 ...90
• 제2절 MBISTDesign 사용 예 ...101
• 1. 기본 사용 예 ...101
• 2. 동일 Spec.의 메모리를 한 controller로 제어할 때 ...102
• 3. Memory BIST 라이브러리의 예 ...104
• 제3절 메모리 BIST 알고리듬 구현 ...107
• 1. 사용자 정의 BIST 알고리듬용 시퀀스 ...107
• 2. 미리 정의된 BIST 알고리듬 ...108
• 3. BIST 및 Scan 설계를 고려한 메모리 블록 설계 ...110
• 제4절 메모리 출력 Compressor 설계 ...113
• 1. 메모리 출력 Compressor 개요 ...113
• 2. 메모리 출력 Compressor 사용법 ...114
• 3. 컴프레서 Configuration 파일 ...116
• 4. AMBIT: 메모리 BIST engine의 결과물 ...117
• 5. AMBIT mbist_integrator의 결과물 ...122
• 제5장 결 론 ...126
• 1. 시제품개발 결과 ...126
• 2. 활용에 대한 건의 ...126
• 3. 기대 효과 ...128
• 4. 상용화 전략 ...130
• 참고 문헌 ...134