초록

모바일용 터치 스크린에 손가락이 닿은 부분의 좌표를 계산하여 출력하는 저전력, 고속응답 터치 스크린 제어 칩과 응용 Soft Ware 개발

Abstract ▼

The touch screen has been popularized worldwide as one of various types of HID (Human Input Device) since Apple Inc. launched iPhone into a market in 2007. Since then, touch screens have been rapidly adopted to many IT products such as hand-held phones, GPS's, digital cameras, navagations, and MP3 p

The touch screen has been popularized worldwide as one of various types of HID (Human Input Device) since Apple Inc. launched iPhone into a market in 2007. Since then, touch screens have been rapidly adopted to many IT products such as hand-held phones, GPS's, digital cameras, navagations, and MP3 players as new input devices. The demand on touch screen applications are ever increasing from 210 million in 2007, 341 million in 2008 to 480 million in 2009. In this study
ATLab sucessfully has developed an IC and softwares which are competitive in a worldwide touch screen market.
The purpose of this study is a development of low power and fast response touch screen controller IC and application softwares to detect a finger touch and to calculate a coordinate of a finger touch in a touch screen of a mobile device.

목차 Contents

• 표지 ...1
• 제출문 ...3
• 요약문 ...4
• SUMMARY ...6
• CONTENTS ...7
• 목차 ...10
• 제1장 서 론 ...13
• 제2장 디지털 저 전력 고속응답 터치스크린 SOC 설계와 FPGA 제작 ...15
• 제1절 연구 내용 ...15
• 1. 연구목표 ...15
• 가. 제품 제원 ...15
• 나 .기능 ...15
• 다. 용도 ...16
• 제2절 디지털 저 전력 고속응답 터치스크린 SOC 설계 ...16
• 1. 시스템 블록도 ...16
• 2. Capscope-P ...17
• 가. Capscope-P 내부 구조 ...17
• 나. Capscope-P의 시분할 방식 구조 ...18
• 3. Filter 설계 ...19
• 4. Normalizer ...22
• 5. 터치 판단 유닛(TDU) ...24
• 6. 터치 좌표 찾는 유닛 (PFU) ...25
• 7. 버튼 터치 인식 유닛 (APIS) ...27
• 8. 파워 조절 유닛 ( PMU ) ...28
• 9. 클럭 생산 유닛 ( CGU ) ...29
• 10. IDLE AIC ...29
• 11. Interrupt Control Unit ...30
• 12. Host Interface ...30
• 13. Test Control Unit ...30
• 제3절 FPGA 제작 및 동작 검증 ...31
• 1. FPGA의 구성 및 시스템 블록도 ...31
• 2. H/W 구성 ...32
• 3. 동작 검증 ...33
• 제3장 TouchWare의 설계 ...35
• 제1절 Touch Ware ...35
• 1. Weight-based 좌표 알고리즘 ...35
• 2. 클러스터 알고리즘 ...36
• 가. 2-Layer의 Diamond 패턴 ...36
• 나. 1-Layer Sawtooth 패턴 ...40
• 3. Gesture 알고리즘 ...43
• 가. Tab ...43
• 나. Flick ...43
• 제4장 CapScope SoC 제작 및 성능 검증 ...46
• 제1절 CapScope SoC 구조 ...46
• 1. CapScope SoC Pin 배치도 및 Pin Description ...46
• 가. 32 QFN Pin 배치도 ...46
• 나. 32 QFN Pin Description ...47
• 다. 24 QFN Pin 배치도 ...48
• 라. 24 QFN Pin Description ...49
• 2. Chip Layout ...50
• 3. Chip 패키지 외관 ...51
• 4. Chip 실장 모습 ...51
• 제2절 CapScope SoC 테스트 및 보드 ...52
• 1. 평가 보드 ...52
• 가. 32 QFN 패키지평가 보드 ...52
• 나. 24 QFN 패키지평가 보드 ...52
• 제3절 전기적 특성 평가 결과 ...53
• 1. Feature ...53
• 2. 전기적 특성 ...55
• 3. 내부 Block 평가 ...57
• 제5장 TouchWare 성능 검증 ...58
• 제1절 ITO Module의 제작 ...58
• 제2절 SoC과 TouchWare System 동작 검증 결과 ...60
• 1. 검증 시스템의 구성 ...60
• 가. 8bit Micro Processor를 이용한 PC System에서의 검증 ...60
• 나. 32bit Application Processor에서의 검증 ...63
• 2. Pre-Filter의 특성 ...67
• 3. Precision ...69
• 4. Accuracy ...70
• 제6장 Test ...72
• 제1절 SoC Test ...72
• 제2절 ITO Module Test ...72
• 1. ITO Module Test Hard ware ...72
• 제7장 결 론 ...75
• 부록 ...76
• 1. 데이터 시트 및 사용자 가이드 ...76
• 2. Tuning Viewer 사용법 ...148
• 3. ITO Module Test 방법 ...164
• 4. SoC테스트 규격 ...180
• 5. 신뢰성 진행 결과 ...202