초록

나노박막구조에서 광-열여기 전자방출 현상을 이용하여 정량화된 전하형 결함의 근원을 분석하여 발생 원인을 추적하고, 그들을 제어를 할 수 있는 분석방법을 개발하는 것이 연구목표이다. 또한 기존의 전기적 분석법들은 시료에 전극 및 기본소자 등을 제작하여야 하는 시료 파괴적 분석법이지만, 본 연구에서는 광-열여기 전자방출이나 전계광방출 현상과 같은 광-전자 물리학원리를 이용한 비파괴성 전하형 결함분석연구로서 차세대 활용 가능한 나노구조 및 광전소자에서 광범위한 결함확인과 나노소자성능 평가에 필수적이 될 것이다.

Abstract ▼

Analysis method capable of controlling charged traps is to be studied, by using thermally excited electron emission phenomena in nano-structures to accurately analyze the origin of the charged traps and then trace the origin. In addition, although the conventional electrical analysis is the destruct

Analysis method capable of controlling charged traps is to be studied, by using thermally excited electron emission phenomena in nano-structures to accurately analyze the origin of the charged traps and then trace the origin. In addition, although the conventional electrical analysis is the destructive analysis for samples in which electrodes, basic devices and the like have to be fabricated, in this study, it is that the non-destructive analysis for charged traps with the principle of electronic physics such as thermally excited and photoinduced electron emission phenomena will be essential for a performance test on nano-devices and the
verification of widely spread traps in electroluminescence devices applicable for the next generation.

목차 Contents

• 일반연구자지원사업 최종보고서 ... 1
• 목차 ... 3
• I. 연구 계획 요약문 ... 4
• 1. 국문 요약문 ... 4
• II. 연구 결과 요약문 ... 5
• 1. 한글요약문 ... 5
• 2. SUMMARY ... 6
• III. 연구내용 및 결과 ... 7
• 1. 연구개발과제의 개요 ... 7
• 2. 국내외 기술개발 현황 ... 8
• 3. 연구수행 내용 및 결과 ... 9
• (1) 광-열여기 전자방출현상(Photo-depopulation spectroscopy)연구 결과 ... 11
• (2) 광-열여기 광전류 시간의존 분광법 (photo-induced current transient spectroscopy) 연구 ... 16
• (3) 전계발광 시간의존 분광법(Electroluminesence Transient Spectroscopy, ELTS) 연구 ... 24
• 4. 목표 달성도 및 관련 분야에의 기여도 ... 33
• 5. 연구결과의 활용계획 ... 34
• 6. 연구과정에서 수집한 해외과학기술정보 ... 35
• 7. 주관연구책임자(공동연구원) 대표적 연구 실적 ... 36
• 8. 참고 문헌 ... 37
• 9. 연구 성과 ... 38
• 10. 기타 사항 ... 40
• [별첨1] 대표연구성과 ... 41
• 자체평가 의견서 ... 46