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NTIS 바로가기주관연구기관 | 대우일렉트로닉스(주) Daewoo Electronics.CO.LTD |
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연구책임자 | 김진우 |
참여연구자 | 문진철 , 이재국 , 이희진 , 이태훈 , 문지섭 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2007-08 |
주관부처 | 산업자원부 |
사업 관리 기관 | 산업자원부 Korea Institute for Industrial Economics and Trade |
등록번호 | TRKO201200003712 |
DB 구축일자 | 2013-05-20 |
키워드 | OLED.유기발광소자.가속수명시험.수명예측.고장분석. |
OLED 패널의 고질적인 고장원인 규명 및 신뢰성 향상으로 기업 및 제품이미지를 향상시키고 품질 개선을 통한 제품의 다양화가 가능하며 고장원인 규명을 통해서 Design Review, 공정개선, 품질비용 절감으로 기업의 경쟁력 확보가 가능하다.
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