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NTIS 바로가기주관연구기관 | (주)예인콘트롤 |
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연구책임자 | 김두환 |
참여연구자 | 정희영 , 안혜성 , 이철훈 , 박호식 , 박종현 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2005-06 |
주관부처 | 산업자원부 |
연구관리전문기관 | 산업자원부 Ministry of Commerce Industry and Energy |
등록번호 | TRKO201200004352 |
DB 구축일자 | 2013-05-20 |
키워드 | 고장수명(MTBF).I/O Module(입출력모듈).DDC(직접디지털제어기). |
1. 최종 목표
- DDC/PLC CARD의 신뢰성 평가를 위한 기준 제시
- 제품의 MTBF(mean time between failures:평균고장 시간) 제시
- 짧은 시간 내에 설계결함 및 부품 결함을 찾기 위한 가속시험방법 개발
2. 신뢰성 저해요인 정밀진단 내용
- 모듈이 설치된 후 오차 범위를 벗어나는 원인 발견
- 기판에 부품 조립 시 납땜 부위 불량 확인
3. 고장원인분석 및 대처결과
- 일부 부품 소자 최적 설계 치로 교체 반영
- 기판 납땜 공정 관리 철저 납 성분
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