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NTIS 바로가기주관연구기관 | 전자부품연구원 Korean Electronics Technology Institute |
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연구책임자 | 김철희 |
참여연구자 | 송병석 , 이관훈 , 강보철 , 홍원식 , 김미애 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2006-06 |
주관부처 | 산업자원부 |
과제관리전문기관 | 한국산업기술진흥원 Korea Institute for Advancement of Technology |
등록번호 | TRKO201200004559 |
DB 구축일자 | 2013-05-20 |
키워드 | 전압제어수정발진기.환경시험.신뢰성시험.신뢰성향상.고장분석. |
1. 최종 목표
전압제어 수정발진기(VCXO)의 신뢰성 보증을 위한 신뢰성시험을 목표로 한다. 이를 위해 해당부품 신뢰성 선진국 및 바이어가 요청하는 시험규격에 따른 특성 시험 및 신뢰성시험을 실시하여 신뢰성 성적서를 발행한다. 또한, Field 고장품의 고장 해결을 위한 광학검사 및 비파괴검사 등의 분석을 실시하여 그 결과를 제품설계에 반영한다.
2. 신뢰성 저해요인 정밀진단 내용
- VCXO용 IC의 ESD에 의한 미작동
- X-tal Blank의 안정도와 정밀도
- IC와 X-tal의 Mismatch
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