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다중주파수형 와전류 탐상 기술을 이용한 열처리,이종재질 및 이형 검사시스템 개발 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 (주)에디웍스
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2011-07
과제시작연도 2010
주관부처 중소기업청
Small and Medium Business Administration
등록번호 TRKO201200006230
과제고유번호 1425061019
사업명 창업보육기술개발
DB 구축일자 2013-05-20
키워드 비파괴 검사.열처리 검사.이종재질 검사.이형 검사.ECT.

초록

본 기술개발은 자동차, 선박, 항공기등과 같은 동작기계에 사용되는 핵심 기계부품 생산시 발생할 수 있는 열처리 불량, 이종재질 혼입검출, 이형치수 불량 제품 혼입분류 검사와 같은 검사 항목에 대해 전수검사를 목적으로 한다. 또한, 검사 기술의 핵심은 고성능 다중 주파수형 와전류탐상 기술을 이용하여 자동으로 전수검사 하는 것으로 기존 경도검사의 경우 샘플 검사를 이용한 방법, 재질의 경우 화학적 수동검사, 형상의 경우 비전검사 또는 선형측정시스템과 같은 여러 가지 검사방법을 동원해야만 3 가지 검사항목에 대해서 검사가 가능 하였다.

목차 Contents

  • 중소기업 기술개발사업 최종보고서 ... 1
  • 표지 ... 2
  • 제출문 ... 3
  • 요약서(초록) ... 4
  • 목차 ... 5
  • 제 1 장 개발기술의 개요 ... 7
  • 제 1 절 기술의 개요 ... 7
  • 제 2 절 기술개발의 필요성 ... 8
  • 제 3 절 관련기술 현황 ... 8
  • 제 2 장 개발목표 및 개발내용 ... 10
  • 제 1 절 기술개발 목표 ... 10
  • 1 . 금속의 전자기적 성질 ... 10
  • 가. 전기적 성질 ... 10
  • 나. 자기적 성질(열처리 및 이형치수 불량 검사항목) ... 13
  • 2. 와전류 탐상검사 ... 16
  • 가. 와전류 검사장비 ... 16
  • 나. 와전류 센서 ... 22
  • 다. 열처리 불량, 이종재질 및 이형 혼입검사 알고리즘 ... 25
  • 3. 검사 메커니즘 ... 28
  • 가. 기계장치 ... 28
  • 나. 제어시스템 ... 29
  • 다. 검사 이력관리 시스템 ... 30
  • 제 2 절 기술개발 내용 ... 33
  • 2. 와전류 검사장비 ... 35
  • 가. 입출력 제어보드 ... 36
  • 나. 전원 보드 ... 39
  • 다. 아나로그 보드 ... 41
  • 라. 디지털 신호처리 보드 ... 46
  • 3. 와전류 센서 ... 61
  • 4. 컨트롤 시스템 ... 62
  • 다. 컨트롤 박스용 제어보드 PCB ... 63
  • 라. 회로도 ... 63
  • 5. 이력관리 시스템 ... 68
  • 5. 강구 공급 및 합불 선별 장치 ... 71
  • 6. 성능 시험 ... 73
  • 제 3 장 성과요약 및 기대효과 ... 82
  • 제 1 절 개발결과 ... 82
  • 제 2 절 기대효과 ... 82
  • 제 3 절 상용화 계획 ... 83
  • 참고문헌 ... 84

표/그림 (102)

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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