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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
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연구책임자 | 박승남 |
참여연구자 | 강주식 , 엄태봉 , 김재완 , 김종안 , 김명순 , 정돈영 , 서호성 , 진종한 , 엄천일 , 권택용 , 이창복 , 이종구 , 박상언 , 김영범 , 양성훈 , 이영규 , 이상범 , 유대혁 , 박창용 , 이원규 , 이호성 , 박연규 , 우삼용 , 홍승수 , 최인묵 , 송한욱 , 양태헌 , 이우갑 , 이용재 , 이성준 , 김광표 , 김종호 , 최재혁 , 김민석 , 이정태 , 이호영 , 김진희 , 이광철 , 우병칠 , 김용규 , 감기술 , 양인석 , 이영희 , 정우철 , 최병일 , 김종철 , 우상봉 , 이상현 , 권수용 , 송양섭 , 김문석 , 김완섭 , 유광민 , 권성원 , 박영태 , 정재갑 , 강전홍 , 한권수 , 이상화 , 박포규 , 김영균 , 김규태 , 김단비 , 이형규 , 채동훈 , 강태원 , 강노원 , 강웅택 , 강진섭 , 권재용 , 김대찬 , 김정환 , 박정일 , 원성호 , 이동준 , 이주광 , 조치현 , 서상준 , 박경암 , 최용문 , 정완섭 , 정성수 , 임기원 , 김용태 , 권휴상 , 최해만 , 이용봉 , 전세종 , 서재갑 , 이생희 , 오연균 , 윤병로 , 전병수 , 강웅 , 백경민 , 조완호 |
보고서유형 | 1단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2012-10 |
과제시작연도 | 2012 |
주관부처 | 미래창조과학부 KA |
사업 관리 기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
등록번호 | TRKO201300031641 |
과제고유번호 | 1345196017 |
사업명 | 한국표준과학연구원연구운영비지원 |
DB 구축일자 | 2013-12-21 |
키워드 | 기반 측정표준.교정측정능력.소급성.불확도.국제비교.Physical metrology standard.Calibration and measurement capability.Traceability.Uncertainty.International comparison. |
Ⅲ. 연구개발의 내용 및 범위
[길이 측정표준]
● 실리콘 웨이퍼 두께 프로파일 측정 시스템 개발
- 최대 측정 영역 : 100 mm
- 두께 측정 불확도 : < 1 μm
● 레이저 간섭계 기술 개발(1/3)
- 장거리 간섭계 bench upgrade 및 자동화
- 532 nm 요오드안정화 Nd:YAG 레이저 개발
● 수직각 교정능력 향상
- 측정분해능: 0.01″ 이하
- 측정불확도 (k = 2): 0.2″ 이하 (±90° 범위)
● 게이지 블록 절대측정 정확도 향상
Ⅲ. Contents and Scope
[Length Standards]
● Establishment of profiling method of silicon wafer thickness
- maximum measuring range : 100 mm
- thickness measurement uncertainty : < 1 μm
● Development of calibration system for laser interferometers (1/3)
- long range interferometer be
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