초록 ▼

1. 최종목표
◦ 진공 펌프와 에어를 이용하여 1차 금형 냉각장치에 대한 검사장치 개발
: 디지털 압력계를 이용하여 압력의 변화가 발생되는 신호를 자동으로 감지하여 소리 및 LED를 이용한 표시 방법으로 검사의 편리성 제공
: 소형화와 이동성 확보
◦ 액체를 이용한 정밀 검사장치 개발
: 1차 검사에서 문제가 있을 경우 사용하는 검사 장치로서 펌프를 이용하여 물과 같은 액체를 일정시간 지속적으로 주입하여 누수 지점을 찾아낼 수 있는 검사 장치
: 에어 콤프레샤를 이용하여 냉각장치 내에 있는 액체 제거

1. 최종목표
◦ 진공 펌프와 에어를 이용하여 1차 금형 냉각장치에 대한 검사장치 개발
: 디지털 압력계를 이용하여 압력의 변화가 발생되는 신호를 자동으로 감지하여 소리 및 LED를 이용한 표시 방법으로 검사의 편리성 제공
: 소형화와 이동성 확보
◦ 액체를 이용한 정밀 검사장치 개발
: 1차 검사에서 문제가 있을 경우 사용하는 검사 장치로서 펌프를 이용하여 물과 같은 액체를 일정시간 지속적으로 주입하여 누수 지점을 찾아낼 수 있는 검사 장치
: 에어 콤프레샤를 이용하여 냉각장치 내에 있는 액체 제거 장치
※ 프로세서를 이용하여 부분적 검사 및 일괄적 검사가 가능하도록 개발
2. 개발내용 및 결과
◦ 금형 사출 장치의 냉각 회로 검사 장치 개발
: 진공을 이용하여 빠른 시간에 사출 금형에 대한 누수가 있는가를 검사할 수 있는 검사 장치 개발 완료
- 압력의 변화를 인식하기 위해 디지털 압력계를 사용하여 각 디지트의 값의 변화가 있는가에 대한 인식이 가능하도록 프로세서와 연결하여 검사할 수 있도록 개발
- 진공 검사 장치 단독으로 검사가 가능하도록 이동이 가능하고, 물과 공기를 이용한 검사 장치와도 결합과 분리가 가능하도록 개발
: 진공 검사 장치에서 누수가 있는 것을 판단되었을 경우 물을 이용하여 누수 지점을 파악하고, 냉각 회로의 물을 제거하는 기능과 누수 지점에 대한 뚜렷한 표시가 가능하도록 에어를 이용한 검사 장치에 대한 개발을 완료
: 진공 검사 장치와 물, 공기를 이용한 검사 장치를 일괄적으로 제어하고 검사를 수행할 수 있도록 제어할 수 있는 제어 장치 개발 완료
- EMC 인증을 통하여 신뢰성 확보
3. 사업성과
◦ 기술적 성과
- 진공 펌프를 이용하여 간단 구조이면서도 금형의 냉각 장치의 누수 여부를 손쉽게 파악할 수 있도록 디지털 압력계의 디지트 변화를 인식할 수 있는 기술을 확보하여 진공펌프를 이용한 각종 장비에 대한 개발이 가능한 기술력과 정보력을 확보
- 진공 펌프와 펌프, 컴프레샤 등의 각종 장치들의 입력과 출력을 하나의 출력단과 입력단을 이용하여 검사가 가능하도록 솔레노이드 밸브 등의 내부 연동 장치 개발에 대한 기술력을 확보하였다.
- 또한, 프로세서를 이용하여 전체 검사 장치에 대한 제어와 결과를 출력할 수 있도록 하는 제어 기술을 확보하였다.
◦ 경제적 성과
- (주)석성정밀에서 제작되는 금형에 대해 자체 검사를 통한 결과를 첨부하여 회사에 대한 신뢰성을 확보하여 좀 더 많은 경제적 증가 기대
- 기존의 주문형의 냉각 장치 검사 장치에 비해 본 개발 제품의 경우 실용적이면서도 초기비용, 유지보수 비용을 크게 줄여 구매력을 높이고 신규 틈새시장을 선점할 수 있는 가능성 확보
◦ 사회적 성과(일자리 창출 등)
- 개발된 제품에 대해 금형 회사를 상대로 판촉을 통한 결과를 기반으로 인력확보 예정
- 전자와 기계를 이해할 수 있는 인력을 고용하여 완벽한 기술이전과 차기 개발에 대한 기반 조성 예정
4. 기술개발결과 활용계획
◦ 제품 양산계획
- 개발 완료시점에서 양산용 제반 도면 및 기술 준비도 완료가 되도록 하는 전사적인 양산 제반 준비 작업을 완료한다.
◦ 양산을 위한 생산시스템의 준비
- 공정 및 생산 라인의 최소화를 통해 생산 원가를 줄이면서도 공정 중 불량률을 최소화 할 수 있는 효과적인 생산시스템을 구축할 계획이다.
◦ 판로확보 및 마케팅 계획
- 전시회 참가를 통한 인지도 확보
- 금형 업체 관련 조합 등을 통한 조직적인 홍보
- KOTRA 등 유관기관을 통한 해외 우수 바이어의 발굴(FTA 비준국가 적극활용)
5. 기술개발자료의 보안관리
◦ 보안등급 분류기준에 따른 등급부여 및 관련 의견 기술
- 보안 등급은 일반과제로 분류
◦ 연구개발의 기술임치 및 특허 출원·등록 실적
- 특허 출원 (2건)
“사출금형의 냉각회로 검사 방법”, 출원번호10-2014-0000498(2014. 1. 3)
“빛을 이용한 사출금형의 냉각회로 검사 방법”, 출원번호10-2014-0054751(2014. 5. 8.)

목차 Contents

• 표지 ... 1
• 개 발 결 과 의 견 서 ... 2
• 최종보고 요약서 ... 3
• 목차 ... 5
• 제 1 장 서론 ... 6
• 제 1 절 기술 개발의 개요 및 필요성 ... 6
• 제 2 절 관련기술 현황 ... 8
• 1. 국내·외 관련 기술의 현황 ... 8
• 2. 국내·외 시장현황 ... 10
• 3. 국내·외 지적재산권 현황 ... 10
• 4. 기술개발 차별화 및 선행특허 회피 전략 ... 10
• 5. 개발기술의 임치 및 특허출원 계획 ... 11
• 제 2 장 과제개발 내용 및 방법 ... 12
• 제 1 절 개발 목표 ... 12
• 1. 개발 목표 ... 12
• 2. 개발 내용 ... 12
• 제 2 절 세부 개발내용 및 방법 ... 15
• 1. 진공펌프 검사 장치 ... 15
• 2. 펌프와 에어 컴프레샤 검사 장치 ... 17
• 3. 메인보드 ... 19
• 4. 금형 사출 장치의 냉각 회로 검사 장치 ... 20
• 5. 금형 사출 장치의 냉각 회로 검사 장치 실험 ... 22
• 6. 금형 사출 장치의 냉각 회로 검사 장치의 사용 설명 ... 24
• 7. 지적재산권 출원 ... 30
• 8. 인증 ... 34
• 제 3 장 사업성과 ... 35
• 제 1 절 기술적 성과 ... 35
• 1. 핵심 개발성과 ... 35
• 2. 독창적 핵심기술 ... 35
• 제 2 절 경제적 성과 ... 36
• 제 3 절 기타 성과 ... 36
• 제 4 절 향후 5년간 기술개발결과 활용계획 ... 36
• 1. 제품화 계획 ... 36
• 2. 양산·판로 확보 계획 ... 37
• 제 4 장 결론 ... 39
• 제 1 절 금형 사출 장치의 냉각 회로 검사 장치 개발 ... 39
• 1. 금형 사출 장치의 냉각 회로 검사 장치 ... 39
• 2. 지적 재산권 및 인증 ... 39
• 제 2 절 향후 계획 ... 39
• 1. 기술이전 ... 39
• 2. 사업화 ... 40
• 별첨 1> 특허(10-2014-0000498) ... 41
• 별첨 2> 특허(10-2014-0054751) ... 51
• 별첨 3> EMC 인증서 ... 61
• 끝페이지 ... 61