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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국생산기술연구원 Korea Institute of Industrial Technology |
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보고서유형 | 연차보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-12 |
과제시작연도 | 2014 |
주관부처 | 미래창조과학부 Ministry of Science, ICT and Future Planning |
과제관리전문기관 | 한국생산기술연구원 Korea Institute of Industrial Technology |
등록번호 | TRKO201500001964 |
과제고유번호 | 1711022400 |
사업명 | 한국생산기술연구원연구운영비지원 |
DB 구축일자 | 2015-05-02 |
키워드 | 인쇄회로기판.반도체검사.고종횡비.낮은 임피던스편차.공정관리.PCB.semiconductor inspection.high aspect ratio.low impedance tolerance.process control. |
핵심기술
글로벌 Topclass의 고사양 PCB제품 생산기술
개발의 목표
고성능/고신뢰성 반도체 검사용 PCB제조를 위한 핵심 공정 파악 각 공정 기술 개발
• 27:1이상의 고종횡비 반도체 검사용 PCB제조공정 기술개발
• Impedance tolerance (+/-)7%이하의 반도체 검사용 PCB 제조공정 기술개발
개발내용 및 결과
○ RTF(reverse treated foil 도입 및 공정 최적화 연구
- RTF 도입에 따른 impedance tolerance 개선
- RTF
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