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NTIS 바로가기주관연구기관 | 충남대학교 Chungnam National University |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-05 |
과제시작연도 | 2013 |
주관부처 | 미래창조과학부 Ministry of Science, ICT and Future Planning |
등록번호 | TRKO201500003375 |
과제고유번호 | 1711006906 |
사업명 | 일반연구자지원(미래부) |
DB 구축일자 | 2015-05-16 |
DOI | https://doi.org/10.23000/TRKO201500003375 |
○ 본 연구에서는 일차적으로 입자의 단극확산 하전 특성은 입자의 형상에 의존하므로, 고세장비 나노입자의 단극확산 하전 특성에 대해서 실험적/해석적으로 연구하여, 최종 목표인 실시간 측정 기법 개발에 대한 이론적 기반을 제공하였음. 전기이동도 모델과 정전기학 모델을 이용하여 고세장비 나노입자의 평균 하전량을 해석적으로 모델링하였음. ◦ 본 연구에서는 입자의 형상이 입자가 갖는 평균하전량에 미치는 영향을 연구함.
- 실험적으로 구형입자와 나노와이어의 입자 당 평균하전량을 측정하였음.
- Chang(1981)의 이론으로 입자의
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