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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
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연구책임자 | 김정원 |
참여연구자 | 구자용 , 이인호 , 이우 , 문창연 , 엄대진 , 이승미 , 이주현 , 김대호 , 김용규 , 송재용 , 박선화 , 신호선 , 강상우 , 신정호 , 권수용 , 김용성 , 박현민 , 뉴엔비엣치엔 , 정윤환 , 홍석균 , 정기욱 , 류정아 , 서언미 , 박민규 , 임희선 , 펑티랭 , 김태건 , 최승연 , 박지혜 , 서성원 , 서성원 , 배정민 , 김영석 , 모나리자 , 전현구 |
보고서유형 | 1단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2017-12 |
과제시작연도 | 2017 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
과제관리전문기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
등록번호 | TRKO201800014637 |
과제고유번호 | 1711062930 |
사업명 | 한국표준과학연구원연구운영비지원 |
DB 구축일자 | 2018-06-02 |
키워드 | 나노소재.반도체.메모리.열전 에너지.변환효율.nanomaterials.semiconductor.memory.thermoelectric energy.conversion efficiency. |
DOI | https://doi.org/10.23000/TRKO201800014637 |
- 마이크로소자 기반 나노반도체 소자의 열전변환효율 측정평가 기술 개발 확보
- 고온용(150 ℃ ~ 700℃) 열전소자 및 모듈의 열전성능지수 및 발전효율 평가를 위한 평가시스템 제작 및 측정불학도 평가법 확립
- 박막형 소재의 열전수송특성 측정장비 개발 (불확도 제백계수 5%, 비저항 7%, 열전성능지수: 17%)
- 박막의 비접촉 두께방향 TDTR기반 열전도도 측정기술 개발 (-50~450℃) 및 절차서 작성
- 2D XY 평면형 열전소자의 열전성능 평가시스템 구축완료 및 파워팩터 측정불확도 평가절차 확립
Ⅳ. Results
- Development of Si-based single atom memory technology
- Development of SiOx-based forming-free resistive memory technology
- Development of surface-sensitive techniques for measuring the dielectric constant and Debye length at the semiconductor surface
- Developme
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