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NTIS 바로가기주관연구기관 | 서울대학교 Seoul National University |
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연구책임자 | 강충무 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2020-03 |
과제시작연도 | 2019 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
등록번호 | TRKO202000005209 |
과제고유번호 | 1711085596 |
사업명 | 개인기초연구(과기정통부)(R&D) |
DB 구축일자 | 2020-07-29 |
키워드 | 구조적 효과.신호 증폭.나노구조.마이크로칩.전도도검출.휴대성.고감도.이온 분석.고속 분석. |
□ 연구개요
전극 소재의 구조적 효과에 기인한 신호 증폭 현상을 연구/ 검증하고 이를 통해 얻은 원천기술 및 나노구조 전극을 전도도검출 시스템에 적극적으로 도입함. 특히, 나노구조 전극을 접촉식 전도도검출 기반의 마이크로칩에 집적하여, 휴대성과 편의성이 높은 이온 분석용 마이크로칩 시스템을 구축함. 마이크로칩을 이용한 전도도검출법은 고속이온 분석을 가능하게 할 것임. 또한, 마이크로칩에 집적되는 나노구조 전극의 구조적 특성을 극대화함으로써, 저비용 전극 소재로 구성된 고감도 검출기 기반의 상용화 이온 검출시스템을 구현할 수 있
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