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NTIS 바로가기주관연구기관 | 경희대학교 Kyung Hee University |
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연구책임자 | 김진상 |
참여연구자 | 장익준 , 김명현 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2020-01 |
과제시작연도 | 2019 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
연구관리전문기관 | 한국연구재단 National Research Foundation of Korea |
등록번호 | TRKO202100001839 |
과제고유번호 | 1711082107 |
사업명 | 핵융합기초연구(R&D) |
DB 구축일자 | 2021-06-19 |
키워드 | 단위사건효과.TID 센서.방사선 수송계산.정적메모리.내방사선 설계.single event effect.Total Ionizing Dose sensor.Radiation Transport.SRAM.Radation-hard Design. |
본 세부 과제는 SEE 등의 발생 기작 및 확률을 측정할 수 있는 회로를 제작하고, 핵융합로와 동일한 환경에서 제작한 회로를 측정하여 정확한 SEE 발생 기작 및 발생 확률을 모델링하여, 추후 관련 시뮬레이션 가능하도록 인프라를 구축하였다. 본 연구를 통해서 디지털 집적회로의 기초가 되는 latch와 SRAM 등의 기억소자에 대한 내방사선 설계기법을 개발하였으며 이를 방사선 환경에서 시험하여 기존의 기법보다 우수함을 확인하였다. 또한, 방사선으로 인한 단일사건에 대한 영향뿐만 아니라, 방사선으로 인한 회로의 세계 최고 수준의 노쇠화
Purpose & Contents
This research develops a circuit capable of measuring the occurrence probability of such mechanisms as SEE. By measuring the circuit fabricated in the same environment as a fusion by modeling the exact mechanism of occurrence and probability SEE plans to build an infrastructure
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