초록 ▼

□ 최종목표
17″×17″, 14″×17″ 사이즈의 TFT x-선 검출기를 제어하고 영상을 획득할 수 있는 시스템 개발

□ 개발내용 및 결과
∘ [개발기술] X-선을 이용하여 비침습적으로 물체의 내부를 영상화할 수 있는 대면적 x-선 검출기를 구동하고 데이터를 획득하는 시스템을 개발.
∘ [원리] 물체를 통과하면서 내부의 해부학적인 정보를 가지는 x-선 포톤을 검출하여 영상화하는 센서로서, 투과된 x-선을 신틸레이터를 통해 가시광선으로 변환하고 이를 TFT 기반 영상센서로 촬영하여 영상화함
∘ [연

□ 최종목표
17″×17″, 14″×17″ 사이즈의 TFT x-선 검출기를 제어하고 영상을 획득할 수 있는 시스템 개발

□ 개발내용 및 결과
∘ [개발기술] X-선을 이용하여 비침습적으로 물체의 내부를 영상화할 수 있는 대면적 x-선 검출기를 구동하고 데이터를 획득하는 시스템을 개발.
∘ [원리] 물체를 통과하면서 내부의 해부학적인 정보를 가지는 x-선 포톤을 검출하여 영상화하는 센서로서, 투과된 x-선을 신틸레이터를 통해 가시광선으로 변환하고 이를 TFT 기반 영상센서로 촬영하여 영상화함
∘ [연구내용] TFT 기반의 대면적 검출기의 gate 모듈/ROIC 모듈을 제어하여 데이터를 획득하고 이를 저장/처리를 통하여 유무선으로 전송하는 시스템을 개발하고자 함. 특히 여러개의 20ns의 짧은 x-선 펄스 동안 x-선 검출 및 영상획득, 그리고 5분 동안 장시간 x-선 조사에 대한 영상획득 등을 포함함

□ 기술개발 배경
∘ 지원기업은 CR 제품을 개발 및 제조 공급하는 회사로 최근들어 DR 제품을 같이 납품하라는 요구가 증가하고 있으나, 지원기업은 기술준비가 없는 상태임
∘ 지원기업은 본 기술을 개발하기 위한 전문 인력과 비용, 그리고 일정에 대한 불확실성으로 큰 부담
∘ DR 기술은 전기연에서 다년간 축적된 기술을 기반으로 지원기업이 필요로 하는 DR 개발에 삼중고를 해결하고 CR 제품과의 시너지 극대화에 큰 기여를 할 것으로 기대

□ 핵심개발 기술의 의의
∘ 전기연은 wafer scale CMOS 영상센서 기술과 TFT 기반의 x-선 검출기 기술을 보유하고 있음
∘ 본 기술개발은 TFT 패널은 상용패널을 사용하고 이를 20ns 통한 촬영 혹은 장시간(5분 동안) 촬영하기 위한 특수 목적용으로 사용하기 위한 제어 및 데이터 획득시스템을 개발함
∘ 개발된 시스템은 신틸레이터, TFT 패널과 결합, 패키징을 통하여 제품화하고 사업화를 추진함
∘ 지원기업은 이미 외국에 제품을 수출하고 있으며, 본 기술개발로 만들어진 제품 또한 수출을 통한 성과창출이 확대될 것으로 사료됨

□ 적용 분야
∘ 의료용 이동형 x-선 영상기기
∘ 산업용 비파괴 영상기기
∘ 폭발물 x-선 검출기기

(출처 : 초록 - 3. 개발결과 요약 3p)

목차 Contents

• 표지 ... 1
• 제 출 문 ... 2
• 초록 ... 3
• 목차 ... 9
• 제 1 장 서론 ... 10
• 제 1 절 과제의 개요 ... 10
• 제 2 절 국내·외 관련 기술의 현황 ... 11
• 제 3 절 기술개발 시 예상되는 파급 효과 ... 11
• 제 2 장 과제 수행 내용 ... 13
• 제 1 절 최종 목표 및 평가 방법 ... 13
• 제 2 절 개발 내용 및 개발 범위 ... 14
• 제 3 장 과제 수행 결과 및 사업화 계획 ... 16
• 제 1 절 연구개발 최종 결과 ... 16
• 1. 연구개발 추진 일정 ... 16
• 2. 연구개발 추진 실적 ... 17
• 3. 연구개발 성과 ... 36
• 제 2 절 연구개발 추진 체계 ... 37
• 제 3 절 시장 현황 및 사업화 전망 ... 37
• 1. 시장 현황 ... 37
• 2. 사업화 계획 ... 39
• 3. 향후 추가 기술 개발 계획 ... 41
• 제 4 장 결 론 ... 42
• 제 1 절 향후 활용방안 ... 42
• 제 2 절 지원효과 ... 42
• 제 3 절 결 론 ... 42
• 끝페이지 ... 44