최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기주관연구기관 | 서울대학교 Seoul National University |
---|---|
연구책임자 | 김기범 |
참여연구자 | 김기주 , 김민식 , 이상봉 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2020-09 |
과제시작연도 | 2020 |
주관부처 | 미래창조과학부 Ministry of Science, ICT and Future Planning |
등록번호 | TRKO202100016226 |
과제고유번호 | 1711104260 |
사업명 | 나노·소재기술개발(R&D) |
DB 구축일자 | 2021-11-13 |
키워드 | 대면적 그래핀.그래핀 고속 품질평가.가시화 기술.전기적 특성평가.Large-scale graphene.Rapid graphene qaulity evaluation.Visualization technic.Electrical property measurement. |
◯ 대면적 균일 그래핀의 비파괴적 고속 품질 평가기술 개발을 위하여 그래핀의 다양한 물성을 측정할 수 있는 통합 측정 모듈을 개발하였으며, 이를 활용하여 Raman, SEM, Optical microscope, TEM 등 추후 본 과제에서 분석에 필요한 기본 근간을 마련하였음
◯ 통합 측정 모듈을 토대로 하여 다양한 도메인을 가지는 그래핀의 전기적 특성을 효과적으로 분석, 그래팬의 도메인에 따른 전기적 특성을 simple conduction theory를 통하여 분석 및 예측할 수 있었음
◯ 2세부와의 연계를 통하여 가시
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.