![기존에 보고된 2차원 물질 이종 접합 시 보이게 되는 표면의 Defect (Bubble, Wrinkle) 이미지들. [ref. : 4,5]](https://nrms.kisti.re.kr/bitextimages/TRKO202200015016/TRKO202200015016_4_image_12.png "기존에 보고된 2차원 물질 이종 접합 시 보이게 되는 표면의 Defect (Bubble, Wrinkle) 이미지들. [ref. : 4,5]")
![(a-d) Dry transfer 방법에 의한 hBN/MoS2/hBN/MLG 이종 접합 구조의 제작에 대한 광학 이미지와 (e) Cr/Au 증착을 통해 이 루어진 소자 사진. [a) MLG (~2 nm), b) MLG/SiO2 기판 위에 전 사된 hBN (~23 nm) c) hBN/MLG/SiO2 기판 위에 전사된 MoS2 (~10 nm). d) MoS2/hBN/MLG/SiO2 위에 전사된 hBN (~17 nm)]. [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]](https://nrms.kisti.re.kr/bitextimages/TRKO202200015016/TRKO202200015016_7_image_14.png "(a-d) Dry transfer 방법에 의한 hBN/MoS2/hBN/MLG 이종 접합 구조의 제작에 대한 광학 이미지와 (e) Cr/Au 증착을 통해 이 루어진 소자 사진. [a) MLG (~2 nm), b) MLG/SiO2 기판 위에 전 사된 hBN (~23 nm) c) hBN/MLG/SiO2 기판 위에 전사된 MoS2 (~10 nm). d) MoS2/hBN/MLG/SiO2 위에 전사된 hBN (~17 nm)]. [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]")
![MoS2/hBN/MLG 이종 접합 구조에 대한 hBN 두께에 따른 위치별 일함수 분포 차이. [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]](https://nrms.kisti.re.kr/bitextimages/TRKO202200015016/TRKO202200015016_9_image_18.png "MoS2/hBN/MLG 이종 접합 구조에 대한 hBN 두께에 따른 위치별 일함수 분포 차이. [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]")
![hBN 두께에 따른 Electric field 및 tunneling 효과에 의해 이루어진 floating-gate memory 소자의 성능 특성. [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]](https://nrms.kisti.re.kr/bitextimages/TRKO202200015016/TRKO202200015016_10_image_1.png "hBN 두께에 따른 Electric field 및 tunneling 효과에 의해 이루어진 floating-gate memory 소자의 성능 특성. [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]")
![H2O 및 유기물로 구성된 표면 잔여물에 따른 MoS2/hBN/MLG FGM의 Memory window 특성 변화. (ΔVBG = ±20 V and thBN = 96 nm) [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]](https://nrms.kisti.re.kr/bitextimages/TRKO202200015016/TRKO202200015016_10_image_19.png "H2O 및 유기물로 구성된 표면 잔여물에 따른 MoS2/hBN/MLG FGM의 Memory window 특성 변화. (ΔVBG = ±20 V and thBN = 96 nm) [ref. : 8 (‘Adv. Funct. Mater. 2021, 31, 2105472’에 보고됨)]")
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| 주관연구기관 | 충남대학교 Chungnam National University |
|---|---|
| 연구책임자 | 유영준 |
| 보고서유형 | 최종보고서 |
| 발행국가 | 대한민국 |
| 언어 | 한국어 |
| 발행년월 | 2022-03 |
| 과제시작연도 | 2020 |
| 주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
| 연구관리전문기관 | 한국연구재단 National Research Foundation of Korea |
| 등록번호 | TRKO202200015016 |
| 과제고유번호 | 1711148112 |
| 사업명 | 개인기초연구(과기정통부)(R&D) |
| DB 구축일자 | 2022-11-09 |
| 키워드 | 이차원 물질.그래펜.반데발스 이종 접합구조.헥사고날 보론 나이트라이드.표면 결함.two-dimensional materials.graphene.van der Waals heterostructure.hexagonal boron nitride.surface defect. |
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