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NTIS 바로가기주관연구기관 | 명지대학교 MyongJi University |
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연구책임자 | 조일환 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2024-03 |
과제시작연도 | 2023 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
연구관리전문기관 | 한국연구재단 National Research Foundation of Korea |
등록번호 | TRKO202400008113 |
과제고유번호 | 1711184956 |
사업명 | 개인기초연구(과기정통부) |
DB 구축일자 | 2024-09-24 |
키워드 | 고온 환경.실리콘 기반.트랜지스터.응용 소자.기술 개발.Extreme temperature environment.Silicon-based.Transistor.Application devices.Technological development. |
□ 연구개요
본 연구의 최종 목표는 300 ℃ 의 고온에서 동작하는 bulk 실리콘 기반 트랜지스터 구조를 제안하고 가능성을 확인하는 것을 목표로 함. 또한 트랜지스터를 통하여 극한 고온에서 동작 가능한 1T-DRAM 메모리 소자의 동작 가능성을 확인하고 핵심적인 단위 공정을 set up 하는 것을 목표로 함. 또한 이와 같은 가능성(feasibility) 확인을 통하여 향후 대형 과제를 통한 본격적인 소자 개발 연구의 기틀을 마련하는 것을 목표로 함. 개발 기능성 입증을 목표로 하는 과제이므로 실제 공정 data를 기반으로
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