X선 미세회절은 방사광원으로부터 나오는 백색광(white beam)을 K-B mirror등의 집속 장비를 이용하여 1㎛정도까지 집속한 다음, 시료에 입사시켜 시료에서 회절 되어 나오는 Laue pattern를 분석하여, sample의 국부적인 구조를 분석하는 실험방법이다. 단색광원을 이용하는 기존의 X선 회절법은 sample 혹은 detector를 회전시키면서 Laue 조건을 만족하는 각도를 찾는 방식으로 sample을 분석하였다. 이러한 회절법은 각각 grain의 특성을 측정하지 못하고, grain들이 평균적인 특성만을 측정하기 때문에, 수십㎚에서 수십㎛에서 물질의 특성을 연구하기에는 부적합하다. 그러나 1um 정도까지 집속된 white beam을 이용하는 microdiffraction은 sample의 회전 없이도 각각 grain의 orientation, ...
X선 미세회절은 방사광원으로부터 나오는 백색광(white beam)을 K-B mirror등의 집속 장비를 이용하여 1㎛정도까지 집속한 다음, 시료에 입사시켜 시료에서 회절 되어 나오는 Laue pattern를 분석하여, sample의 국부적인 구조를 분석하는 실험방법이다. 단색광원을 이용하는 기존의 X선 회절법은 sample 혹은 detector를 회전시키면서 Laue 조건을 만족하는 각도를 찾는 방식으로 sample을 분석하였다. 이러한 회절법은 각각 grain의 특성을 측정하지 못하고, grain들이 평균적인 특성만을 측정하기 때문에, 수십㎚에서 수십㎛에서 물질의 특성을 연구하기에는 부적합하다. 그러나 1um 정도까지 집속된 white beam을 이용하는 microdiffraction은 sample의 회전 없이도 각각 grain의 orientation, strain, stress 등과 같은 국부적인 sample의 구조 변화를 정확하게 측정할 수 있기 때문에, 수십㎚에서 수십㎛에서 물질의 특성을 연구에 용이하다. X선 미세회절을 이용하여 머리카락, NiO박막, 초전도체(CCOC, MgB₂), multiferroic 물질, PZT 박막, 용융아연도금 등의 다양한 시료의 구조분석을 하였다. 또한 Laue pattern를 자동으로 측정하고, 분석하는 결정방위 자동 측정 장치를 세계 최초로 개발하였다.
X선 미세회절은 방사광원으로부터 나오는 백색광(white beam)을 K-B mirror등의 집속 장비를 이용하여 1㎛정도까지 집속한 다음, 시료에 입사시켜 시료에서 회절 되어 나오는 Laue pattern를 분석하여, sample의 국부적인 구조를 분석하는 실험방법이다. 단색광원을 이용하는 기존의 X선 회절법은 sample 혹은 detector를 회전시키면서 Laue 조건을 만족하는 각도를 찾는 방식으로 sample을 분석하였다. 이러한 회절법은 각각 grain의 특성을 측정하지 못하고, grain들이 평균적인 특성만을 측정하기 때문에, 수십㎚에서 수십㎛에서 물질의 특성을 연구하기에는 부적합하다. 그러나 1um 정도까지 집속된 white beam을 이용하는 microdiffraction은 sample의 회전 없이도 각각 grain의 orientation, strain, stress 등과 같은 국부적인 sample의 구조 변화를 정확하게 측정할 수 있기 때문에, 수십㎚에서 수십㎛에서 물질의 특성을 연구에 용이하다. X선 미세회절을 이용하여 머리카락, NiO 박막, 초전도체(CCOC, MgB₂), multiferroic 물질, PZT 박막, 용융아연도금 등의 다양한 시료의 구조분석을 하였다. 또한 Laue pattern를 자동으로 측정하고, 분석하는 결정방위 자동 측정 장치를 세계 최초로 개발하였다.
X-ray microdiffraction is a diffraction method which uses a focused X-ray beam and, obtain crystallographic information of materials such as orientation and local strain of samples from Laue images of the specimen. In the traditional XRD, a typical beamsize is ~ 1 mm, which is bigger than a typical ...
X-ray microdiffraction is a diffraction method which uses a focused X-ray beam and, obtain crystallographic information of materials such as orientation and local strain of samples from Laue images of the specimen. In the traditional XRD, a typical beamsize is ~ 1 mm, which is bigger than a typical grain size. Thus for polycrystalline specimens, in most cases, only an average structural information over many grains has been available. But in X-ray microdiffraction which uses a focused X-ray beam with ~ 1 ㎛, individual grains can be analyzed as long as the grain size is bigger than the beamsize. Another advantage of X-ray microdiffraction is that the structural information can be obtained from a single Laue image without rotating the specimen. In traditional XRD with a monochromatic beam, the specimen and the detector need to be rotated to get the Bragg condition, which is very time consuming and become an obstacle in getting areal distribution map in a reasonable time. Also by rotating the specimen, the X-ray beam passes through different grains since it penetrates into many grains in the depth direction. Structural analysis of various materials like human's hair, NiO film, superconductors, multiferroic materials, PZT thin films etc, was done by using X-ray microdiffraction. Also the first in-house X-ray microdiffraction setup for automatic measurement of orientations and strains was developed.
X-ray microdiffraction is a diffraction method which uses a focused X-ray beam and, obtain crystallographic information of materials such as orientation and local strain of samples from Laue images of the specimen. In the traditional XRD, a typical beamsize is ~ 1 mm, which is bigger than a typical grain size. Thus for polycrystalline specimens, in most cases, only an average structural information over many grains has been available. But in X-ray microdiffraction which uses a focused X-ray beam with ~ 1 ㎛, individual grains can be analyzed as long as the grain size is bigger than the beamsize. Another advantage of X-ray microdiffraction is that the structural information can be obtained from a single Laue image without rotating the specimen. In traditional XRD with a monochromatic beam, the specimen and the detector need to be rotated to get the Bragg condition, which is very time consuming and become an obstacle in getting areal distribution map in a reasonable time. Also by rotating the specimen, the X-ray beam passes through different grains since it penetrates into many grains in the depth direction. Structural analysis of various materials like human's hair, NiO film, superconductors, multiferroic materials, PZT thin films etc, was done by using X-ray microdiffraction. Also the first in-house X-ray microdiffraction setup for automatic measurement of orientations and strains was developed.
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