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NTIS 바로가기원자힘 현미경(Atomic Force Microscopy)은 나노 스케일 수준의 계측 및 조작이 매우 우수한 장비이다. 원자힘 현미경으로 보통 한 장의 이미지를 얻는데 보통 5분 ∼ 10분 정도의 시간이 소요된다. 이는 기타 다른 측정 장비들에 비해서 매우 느린 속도이다. 이러한 느린 속도는 원자힘 현미경을 산업화 장비로 이용하거나 다른 연구 분야에서 복합적으로 이용하기에는 매우 큰 단점으로 작용한다. 많은 연구 그룹 및 연구실에서는 이러한 단점을 해소하기 위해 많은 노력을 해왔으며 현재도 진행 하고 있는 중이다. 우리도 이러한 단점을 극복하고 원자힘 현미경을 다른 응용분야로서 이용하기 위해서 고속 원자힘 현미경에 관한 연구를 시작하게 되었다. 원자힘 현미경은 스캔 방법에 따라서 크게 ...
저자 | 이동혁 |
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학위수여기관 | 세종대학교 대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 나노신소재공학과 |
발행연도 | 2012 |
총페이지 | vi, 44p. |
키워드 | 비 접촉식 방법 고속 원자힘 현미경 위상 측정 방식 힘 분광기 측정 캔틸레버 반응시간 |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T12639387&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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