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NTIS 바로가기In the manufacturing lines, electrostatic discharge (ESD) damage is one of challenging failures to figure out the root cause. Electrical overstress (EOS) could be quite common failure mode of field returns, and its failing signature would be relatively macroscopic or burnt mark of EOS is readily vis...
저자 | 홍종민 |
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학위수여기관 | 연세대학교 공학대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 전기전자 전공 |
지도교수 | 윤일구 |
발행연도 | 2012 |
총페이지 | x, 39장 |
키워드 | 웨이퍼 쏘잉, 옥사이드 럽쳐, 스파크, 테스트 트리거, ESD, wafer Sawing, oxide rupture, spark, test trigger |
언어 | eng |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T12733652&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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