본 논문에서는 대면적 OLED에 적용 가능한 봉지기술을 개발하기 위하여 가공하지 않은 평판 유리를 봉지재로 적용하고 유리 부착 시 사용되는 Epoxy에 의한 직접적인 손상으로부터 소자를 보호하기 위하여 LiF와 Al을 보호막으로 적용하였으며 각 층의 두께는 150 nm로 동일하게 증착하였다. 기본소자로 Alq3에 Rubrene을 1vol.% 도핑한 적색 OLED를 사용하였다. 그 구조는 ITO(150 ㎚) / 2-TNATA_HIL(50 ㎚) / α-NPD_HTL(30 ㎚) / Alq3:Rubrene(30 ㎚) / Alq3(30㎚) / LiF(0.7 ㎚) / Al(100 ㎚)와 같이 되었다. 보호막으로 LiF/Al/Al를 사용한 경 우의 수명은 봉지하지 않은 Red-OLED의 수명인 8.8 시간보다 약 8.5배 증가된 84시간으로 개선되었으나 Epoxy에 의한 직접적인 영향으로부터 소자를 완벽하게 보호하지 못하여 동일전압에서의 ...
본 논문에서는 대면적 OLED에 적용 가능한 봉지기술을 개발하기 위하여 가공하지 않은 평판 유리를 봉지재로 적용하고 유리 부착 시 사용되는 Epoxy에 의한 직접적인 손상으로부터 소자를 보호하기 위하여 LiF와 Al을 보호막으로 적용하였으며 각 층의 두께는 150 nm로 동일하게 증착하였다. 기본소자로 Alq3에 Rubrene을 1vol.% 도핑한 적색 OLED를 사용하였다. 그 구조는 ITO(150 ㎚) / 2-TNATA_HIL(50 ㎚) / α-NPD_HTL(30 ㎚) / Alq3:Rubrene(30 ㎚) / Alq3(30㎚) / LiF(0.7 ㎚) / Al(100 ㎚)와 같이 되었다. 보호막으로 LiF/Al/Al를 사용한 경 우의 수명은 봉지하지 않은 Red-OLED의 수명인 8.8 시간보다 약 8.5배 증가된 84시간으로 개선되었으나 Epoxy에 의한 직접적인 영향으로부터 소자를 완벽하게 보호하지 못하여 동일전압에서의 전류밀도, 휘도 값의 저하를 볼 수 있었다. 이에 보호막을 보완하여 Alq3를 150 nm 삽입하고 Al의 두께를 증가시킨 Alq3/LiF/Al_4 구조를 적용한 경우 전기적, 광학적 특성 및 수명특성이 개선되었으며, 기준소자와 I-V-L 특성을 비교하였을 때 Epoxy 경화 시 발생하는 out gassing에 의한 직접적인 손상으로부터 소자를 보호하여 동일 인가전압에서 전류밀도 및 발광휘도 특성이 유사한 값을 갖는 것을 확인하였다. OLED/Alq3/LiF/Al_4/Glass구조의 경우 139시간의 수명을 나타내 기준OLED와 비교하여 15.8배 증가된 수명특성을 나타냈다. 또한 가공하지 않은 유리를 봉지재로 적용하기 위해 사용되는 Epoxy가 소자에 가장 많은 영향을 주므로 각각 다른 종류의 Epoxy를 적용 후 특성을 분석해 본 결과 Epoxy를 구성하는 Monomer의 종류, 그리고 Epoxy와 Al의 열팽창 계수 차이에 따라 소자의 전기적, 광학적 특성에 영향을 주는 것을 확인 할 수 있었다. edge에서의 수분과 산소의 침투를 막기 위하여 유리의 가장자리를 Epoxy를 이용하여 sealing한 다음 UV 경화하여 봉지를 완성하였다. 최종 소자는 OLED/Alq3/LiF/Al_4/Glass(E1)_Sealing의 구조를 갖으며, 수명은 152시간으로 기준OLED소자 8.8시간과 비교하여 17.2배 개선되었다.
본 논문에서는 대면적 OLED에 적용 가능한 봉지기술을 개발하기 위하여 가공하지 않은 평판 유리를 봉지재로 적용하고 유리 부착 시 사용되는 Epoxy에 의한 직접적인 손상으로부터 소자를 보호하기 위하여 LiF와 Al을 보호막으로 적용하였으며 각 층의 두께는 150 nm로 동일하게 증착하였다. 기본소자로 Alq3에 Rubrene을 1vol.% 도핑한 적색 OLED를 사용하였다. 그 구조는 ITO(150 ㎚) / 2-TNATA_HIL(50 ㎚) / α-NPD_HTL(30 ㎚) / Alq3:Rubrene(30 ㎚) / Alq3(30㎚) / LiF(0.7 ㎚) / Al(100 ㎚)와 같이 되었다. 보호막으로 LiF/Al/Al를 사용한 경 우의 수명은 봉지하지 않은 Red-OLED의 수명인 8.8 시간보다 약 8.5배 증가된 84시간으로 개선되었으나 Epoxy에 의한 직접적인 영향으로부터 소자를 완벽하게 보호하지 못하여 동일전압에서의 전류밀도, 휘도 값의 저하를 볼 수 있었다. 이에 보호막을 보완하여 Alq3를 150 nm 삽입하고 Al의 두께를 증가시킨 Alq3/LiF/Al_4 구조를 적용한 경우 전기적, 광학적 특성 및 수명특성이 개선되었으며, 기준소자와 I-V-L 특성을 비교하였을 때 Epoxy 경화 시 발생하는 out gassing에 의한 직접적인 손상으로부터 소자를 보호하여 동일 인가전압에서 전류밀도 및 발광휘도 특성이 유사한 값을 갖는 것을 확인하였다. OLED/Alq3/LiF/Al_4/Glass구조의 경우 139시간의 수명을 나타내 기준OLED와 비교하여 15.8배 증가된 수명특성을 나타냈다. 또한 가공하지 않은 유리를 봉지재로 적용하기 위해 사용되는 Epoxy가 소자에 가장 많은 영향을 주므로 각각 다른 종류의 Epoxy를 적용 후 특성을 분석해 본 결과 Epoxy를 구성하는 Monomer의 종류, 그리고 Epoxy와 Al의 열팽창 계수 차이에 따라 소자의 전기적, 광학적 특성에 영향을 주는 것을 확인 할 수 있었다. edge에서의 수분과 산소의 침투를 막기 위하여 유리의 가장자리를 Epoxy를 이용하여 sealing한 다음 UV 경화하여 봉지를 완성하였다. 최종 소자는 OLED/Alq3/LiF/Al_4/Glass(E1)_Sealing의 구조를 갖으며, 수명은 152시간으로 기준OLED소자 8.8시간과 비교하여 17.2배 개선되었다.
In this paper, glass were used as a encapsulation for the purpose of improving the lifetime of the OLEDs. LiF and Al were employed to protect devices from direct damage occurred by epoxy in the process of glass bonding. Red OLEDs doped with 1 vol.% rubrene in Alq3 were used as a basic device. The fi...
In this paper, glass were used as a encapsulation for the purpose of improving the lifetime of the OLEDs. LiF and Al were employed to protect devices from direct damage occurred by epoxy in the process of glass bonding. Red OLEDs doped with 1 vol.% rubrene in Alq3 were used as a basic device. The films consist of ITO(150 ㎚) / 2-TNATA_HIL(50 ㎚) / α-NPD_HTL(30 ㎚) / Alq3:Rubrene(30 ㎚) / Alq3(30 ㎚) / LiF(0.7 ㎚) / Al(100㎚) which were formed in that order. LiF/Al/Al buffer layer is applied to improve lifetime characteristics, but the device was damaged. So, buffer layer is applied by complementing Alq3/LiF/Al_4 structure that is improve electrical and optical properties and lifetime characteristic as compared to LiF/Al/Al buffer layer, and this structure protected damage to the device from direct effect of epoxy, so the same applied voltage, current density and luminance characteristics were have to similar values. 139 hours lifetime of the device has been improved 15.8 times compared with 8.8 hours lifetime of the non-encapsulation device. Epoxy gives damage to device. As a results, monomer types and characteristics and the thermal expansion coefficients between aluminum and epoxy influenced electrical and optical characteristics of the device. Finally, the lifetime of OLED/Alq3/LiF/Al_4/Glass(E1)_Sealing device structure is 152 hours and the device has been improved 17.2 times compared with 8.8 hours lifetime of the non-encapsulation device.
In this paper, glass were used as a encapsulation for the purpose of improving the lifetime of the OLEDs. LiF and Al were employed to protect devices from direct damage occurred by epoxy in the process of glass bonding. Red OLEDs doped with 1 vol.% rubrene in Alq3 were used as a basic device. The films consist of ITO(150 ㎚) / 2-TNATA_HIL(50 ㎚) / α-NPD_HTL(30 ㎚) / Alq3:Rubrene(30 ㎚) / Alq3(30 ㎚) / LiF(0.7 ㎚) / Al(100㎚) which were formed in that order. LiF/Al/Al buffer layer is applied to improve lifetime characteristics, but the device was damaged. So, buffer layer is applied by complementing Alq3/LiF/Al_4 structure that is improve electrical and optical properties and lifetime characteristic as compared to LiF/Al/Al buffer layer, and this structure protected damage to the device from direct effect of epoxy, so the same applied voltage, current density and luminance characteristics were have to similar values. 139 hours lifetime of the device has been improved 15.8 times compared with 8.8 hours lifetime of the non-encapsulation device. Epoxy gives damage to device. As a results, monomer types and characteristics and the thermal expansion coefficients between aluminum and epoxy influenced electrical and optical characteristics of the device. Finally, the lifetime of OLED/Alq3/LiF/Al_4/Glass(E1)_Sealing device structure is 152 hours and the device has been improved 17.2 times compared with 8.8 hours lifetime of the non-encapsulation device.
주제어
#대면적 OLED OLED 봉지방법 Large Size OLED Encapsulation Method
학위논문 정보
저자
박민경
학위수여기관
대진대학교 대학원
학위구분
국내석사
학과
신소재공학과 전자재료
지도교수
주성후
발행연도
2011
총페이지
67
키워드
대면적 OLED OLED 봉지방법 Large Size OLED Encapsulation Method
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