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NTIS 바로가기본 논문에서는 고객 사용조건에서 외부로부터 유입된 ESD가 PCB에 실장 된 PMIC로 2차 방전을 통해 유기되어 단말기에 전원 Reset 및 무감 현상을 일으키는 것을 분석 / 재현하여 PCB 설계 단계에서 보강할 수 있는 방안을 제시하였다. 유입된 ESD가 Main GND layer를 통해 단말기 밖으로 빠져나갈 수 있는 Current path를 어떻게 확보하는지에 대해 본 논문에서 ESD scanning 실험과 Set ...
저자 | 정인성 |
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학위수여기관 | 아주대학교 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | IT융합공학과 |
지도교수 | 감동근 |
발행연도 | 2015 |
총페이지 | 44 p. |
키워드 | ESD |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T13736307&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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