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NTIS 바로가기인쇄 공정을 통해 제작된 전자 소자의 효율에 영향을 미치는 요인 중 하나는 인쇄된 패턴의 표면 조도 이다. 표면 조도가 클 경우 charge trap에 의한 효율 저하 및 열화가 발생할 수 있고 이는 유기소재를 이용한 전자 소자에는 매우 치명적이다. 표면조도 측정 방법은 접촉식과 비접촉식으로 나눌 수 있으며, 접촉식 방법은 샘플과 stylus의 물리적인 접촉을 통해 시료의 line profile을 측정하는 방법으로 시료의 표면에 손상을 줄 가능성이 매우 크기 때문에 유연한 기판을 사용하는 ...
저자 | 양용언 |
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학위수여기관 | 전북대학교 유연인쇄전자전문대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 유연인쇄전자공학과 |
지도교수 | 강재욱 |
발행연도 | 2015 |
총페이지 | 47 p. |
키워드 | AFM, surface roughness, t-test, 인쇄전자 |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T13843237&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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