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NTIS 바로가기Improvement of Noise Power Spectrum Measurement Accuracy for Flat-Panel Radiography Detectors
In order to observe the noise property of the flat-panel digital radiography detector, measuring the normalized noise power spectrum (NNPS) from acquired x-ray images is conducted. However, the con...
저자 | 李恩愛 |
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학위수여기관 | 韓國外國語大學校 大學院 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 전자정보공학과 |
지도교수 | 김동식 |
발행연도 | 2017 |
총페이지 | vi, 38 p. |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T14391895&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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