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NTIS 바로가기전자공학회논문지 = Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics, v.25 no.12, 1988년, pp.1582 - 1585
Kim, Jin-Hun ( )
A cavity perturbation technique is employed to determine the dielectric property of thin samples. Substrates in microwave integrated circuits are fabricated in sheet form and are expected to have a dielectric constant less than 10 and a dielectric loss better than 10**-3. This research aimed to dete...
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