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VLSI 테스트 이론을 이용한 Global Redundancy 조사
Global Redundancey Check by VLSI Test Theory 원문보기

전자공학회논문지 = Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics, v.26 no.4, 1989년, pp.138 - 144  

이성봉 (漢陽大學校 電子工學科) ,  정정화 (漢陽大學校 電子工學科)

초록
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본 논문에서는 게이트레벨회로 최적화를 위한, 논리적 redundancy를 제거하는 새로운 방법을 제안한다. 본 방법은 회로내의 모든 신호선에 대한 redundancy 조사를 피하여 일부의 신호선-fanout branch 신호선에 한정하여 조사를 행한다. 또 조사한 신호선이 nonredundant 할 경우에는, 그 신호선에 대한 조사 과정에 생성된 정보만을 이용하여, 다른 nonrodundant한 신호선을 유효하는 효율적인 procedure을 사용한다. 그리고, 한 신호선에 대한 redundancy 재조사를 피하기 위해, 신호선의 조사순서를 결정하는 휴리스틱한 방법을 제안한다. 본 방법은 기존의 테스팅이론을 응용한 휴리스틱한 방법으로, 각 신호선에 대한 redundancy 재조사를 행하지 않기 때문에 기존의 방법에 비해 실행시간이 매우 빠르다.

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In this paper, a new method is proposed to remove the logical redundancy for the gate-level circuit optimization. In this method, only the fanout-branch signals in the circuits, not all the signals, are examined for redundancy. When a signal is determined to be nonredundant, other nonredundant signa...

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