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NTIS 바로가기한국통신학회논문지 = The journal of the Korean institute of communication science, v.18 no.10, 1993년, pp.1537 - 1545
김대익 (전북대학교 전자공학과) , 정진태 (전북대학교 전자공학과) , 이창기 (전북대학교 전자공학과) , 전병실 (전북대학교 전자공학과)
In this paper, we design a pattern generator and a fault position detector to implement the proposed fault test algorithms which are Column Weight Sensitive Fault (CWSF) test algorithm and bit line decoder fault test algorithm for performing the Built-In Self Test(BIST) in RAM. A pattern generator c...
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