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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Journal of the Korea institute of telematics and electronics. B, v.33B no.7, 1996년, pp.70 - 79
김대익 (전북대학교 전자공학과) , 배성환 (전북대학교 전자공학과) , 이상태 (전북대학교 전자공학과) , 이창기 (서남대학교 전산정보학과) , 전병실 (전북대학교 전자공학과)
To increase the functionality of the memories, previous studies have deifned faults models and proposed functional testing algorithms with low complexity. Although conventional testing depended strongly on functional (voltage) testing method, it couldn't detect short and open defects caused by gate ...
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