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알루미늄 박막의 화학기계적연마 가공에 관한 연구
Chemical Mechanical Polishing of Aluminum Thin Films 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.19 no.2 = no.131, 2002년, pp.49 - 57  

조웅 (한양대학교 대학원 정밀기계공학과) ,  안유민 (한양대학교 기계공학과) ,  백창욱 (서울대학교 전기컴퓨터공학부) ,  김용권 (서울대학교 전기컴퓨터공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The effect of mechanical parameters on chemical mechanical polishing (CMP) of blanket and patterned aluminum thin films are investigated. CMP process experiments are conducted using the soft pad and the slurry mainly composed of acid solution and A1$_2$O$_3$ abrasive. The resul...

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참고문헌 (16)

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  14. Kuo, H.-S. and Tsai, W.-T., 'Effect of Applied Potential on the Chemical Mechanical Polishing of Aluminum in Phosphoric Acid Base Slurry,' J. Electrochcm. Soc., Vol. 147, No. 6, pp. 2136-2142, 2000 

  15. Kuo, H.-S. and Tsai, W.-T., 'Effect of Alumina and Hydrogen Peroxide on the Chemical-Mechanical Polishing of Aluminum in Phosphoric Acid Base Slurry,' Materials Chemistry and Physics, Vol. 69, pp. 53-61,2001 

  16. 이국녕, 김호성, 김용권, '광화학적 표면 개질을 위한 마이크로미러 광변조 시스템 연구,' 제 3 회 한국 MEMS 학술대회 논문집, pp. 15-21, 2001 

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