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NTIS 바로가기照明·電氣設備學會論文誌 = Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers, v.18 no.1, 2004년, pp.105 - 114
김준식 (호서대학교 전기정보통신공학부) , 이상신 (호서대학교 대학원 전자공학과) , 전병준 (호서대학교 대학원 전자공학과)
In this paper, we design the circuits for DC parameter test of semiconductor devices. The DC parameter tester is the system which inspects the DC parameters of semiconductor devices. In the designed circuits, voltage(current) forcing current(voltage) sensing methods are used to inspect the parameter...
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강경일, 권인현, “활용 OP-AMP 회로” 대영사, pp. 10-23, 1991.
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