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NTIS 바로가기주관연구기관 | 엑시콘 산학공동연구소 |
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연구책임자 | 윤종윤 |
보고서유형 | 1단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2017-08 |
과제시작연도 | 2016 |
주관부처 | 미래창조과학부 Ministry of Science, ICT and Future Planning |
등록번호 | TRKO201800036311 |
과제고유번호 | 1711046554 |
사업명 | 국제과학비즈니스벨트조성 |
DB 구축일자 | 2018-08-04 |
키워드 | 반도체.검사장비.후공정.SSD.UFS.Tester.BIST.Protocol. |
연구의 목적 및 내용
차세대 Mobile Storage Device의 검사가 가능하며, 양산 친화적인 BIST(Burn-In Self Test) 기능을 가진 고객 선택형 Tester 개발을 목표.
※ 세부 개발 목표
ㆍ6.0~12.0Gbps급의 High Speed PCB Board 설계
ㆍHigh Speed 동작에 의한 신호품질(SI/PI) 유지 기술 개발
ㆍ저전압 / 고전류의 안정적 공급을 위한 DPS(Device Power Supply) 회로 설계
ㆍTest Capability 향상을 위한 Mul
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