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NTIS 바로가기한국광학회지 = Korean journal of optics and photonics, v.15 no.4, 2004년, pp.331 - 336
김영식 (한국과학기술원 기계공학과 BUPE연구단) , 김승우 (한국과학기술원 기계공학과 BUPE연구단)
The phase change due to the reflection from target surfaces in a white-light interferometer induces measurement errors when target surfaces are composed of dissimilar materials. We prove that this phase change on reflection as the polarization of the white-light changes causes a shift of both envelo...
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de Groot, Peter, Deck, Leslie. Three-dimensional imaging by sub-Nyquist sampling of white-light interferograms. Optics letters, vol.18, no.17, 1462-.
de Groot, Peter, Deck, Leslie. Surface Profiling by Analysis of White-light Interferograms in the Spatial Frequency Domain. Journal of modern optics, vol.42, no.2, 389-401.
Larkin, Kieran G.. Efficient nonlinear algorithm for envelope detection in white light interferometry. Journal of the Optical Society of America. A, Optics, image science, and vision, vol.13, no.4, 832-.
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