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문제 정의
- 채터를 검출하기 위해서는 가능한 빨리 주어진 시간 내에 FFT나 웨이브렛 변환과 같은 시간 및 주파수 영역 신호처리 기술을 이용하여 분석되어야만 한다. 따라서 본 연구에서는 웨이브렛 변환을 이용하여 관련 변수를 계산하였고 이 계산된 변수 중 채터에 적용 가능한 것을 추출하여 그 변수로 엔드밀 가공 중 on-line으로 채터를 검출하고자 하였다. 또한 엔드밀 가공의 기본적인 특성을 이해하고 채터가 있는 엔드밀 절삭력 신호를 이용한 웨이브렛 변환 이론 적용에 따른 그 타당성을 검증하고자 하였다.
- 따라서 본 연구에서는 웨이브렛 변환을 이용하여 관련 변수를 계산하였고 이 계산된 변수 중 채터에 적용 가능한 것을 추출하여 그 변수로 엔드밀 가공 중 on-line으로 채터를 검출하고자 하였다. 또한 엔드밀 가공의 기본적인 특성을 이해하고 채터가 있는 엔드밀 절삭력 신호를 이용한 웨이브렛 변환 이론 적용에 따른 그 타당성을 검증하고자 하였다.
- 웨비브렛 변환을 적용한 결과 세부계수 레벨 1인 경우가 가장 적합함을 알 수 있었다. 또한 채터 영역 유무의 특성을 AR 스펙트럼으로 확인하여 적절한 데이터 범위를 선정하고 웨이브렛 변환을 통한 채터 모드 검출 타당성을 입증하고자 하였다. 일반적인 FFT 스펙트럼 분석 대신 웨이브렛 분석법으로 시간영역범위에서 고주파성분 계수를 이용하여 채터 분석을 수월하게 검출 할 수 있었다.
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